干涉顯微鏡的干涉原理
干涉顯微鏡是利用光波的干涉原理精確測量試樣表面高度微小差別的計量儀器。按其原理可以分為多束干涉顯微鏡和雙光束干涉顯微鏡兩類。這里僅就基于雙光束干涉的顯微鏡進行論述。干涉顯微鏡是根據光波干涉原理設計制造出來的。圖1中(a)為其光學系統示意圖。由光源1發出的光線經聚光鏡2、濾色片3、光闌4及透鏡5后成平行光束，射向半反半透的分光鏡7后分成兩束：一束光線通過補償鏡8、物鏡9到平面反射鏡10，被10反射又回到分光鏡7，再由7經聚光鏡11到反射鏡16，由16進入目鏡12；另一束光線向上通過物鏡6，投射到被測零件表面，由被測零件表面反射回來，通過分光鏡7、聚光鏡11到反射鏡16，由16反射也進入目鏡12。這樣，在目鏡12的視場內可以觀察到這兩柬光線因光程差而形成的干涉帶圖形。若被測試樣表面粗糙不平，則干涉帶將如圖1中(b)所示的彎曲狀；圖1中(c)為干涉顯微鏡的外形示意圖。 ......閱讀全文
干涉顯微鏡的干涉原理
干涉顯微鏡是利用光波的干涉原理精確測量試樣表面高度微小差別的計量儀器。按其原理可以分為多束干涉顯微鏡和雙光束干涉顯微鏡兩類。這里僅就基于雙光束干涉的顯微鏡進行論述。干涉顯微鏡是根據光波干涉原理設計制造出來的。圖1中(a)為其光學系統示意圖。由光源1發出的光線經聚光鏡2、濾色片3、光闌4及透鏡5后成平
干涉顯微鏡的干涉原理
干涉顯微鏡是利用光波的干涉原理精確測量試樣表面高度微小差別的計量儀器。按其原理可以分為多束干涉顯微鏡和雙光束干涉顯微鏡兩類。這里僅就基于雙光束干涉的顯微鏡進行論述。干涉顯微鏡是根據光波干涉原理設計制造出來的。圖1中(a)為其光學系統示意圖。由光源1發出的光線經聚光鏡2、濾色片3、光闌4及透鏡5后成平
干涉顯微鏡的干涉原理
干涉顯微鏡是利用光波的干涉原理精確測量試樣表面高度微小差別的計量儀器。按其原理可以分為多束干涉顯微鏡和雙光束干涉顯微鏡兩類。這里僅就基于雙光束干涉的顯微鏡進行論述。干涉顯微鏡是根據光波干涉原理設計制造出來的。圖1中(a)為其光學系統示意圖。由光源1發出的光線經聚光鏡2、濾色片3、光闌4及透鏡5后成平
微分干涉顯微鏡原理
當兩束光通過光學系統時會發生相互干涉，如果相位相同，干涉的結果是亮度增強，反之，就會相互抵消變暗，這就是光波的干涉現象。微分干涉顯微鏡是以平面偏振光為光源，光線經棱鏡折射后分成兩束，在不同時間經過樣品的相鄰部位，然后經過另一棱鏡將這兩束光匯合，從而樣品中厚度上的微小差別就會轉化成明暗區別，增加了樣品
微分干涉顯微鏡的原理
??DIC顯微鏡又稱Nomarski相差顯微鏡（Nomarki?contrast?microscope），其優點是能顯示結構的三維立體投影影像。與相差顯微鏡相比，其標本可略厚一點，折射率差別更大，故影像的立體感更強。????DIC顯微鏡的物理原理完全不同于相差顯微鏡，技術設計要復雜得多。DIC利用的
微分干涉顯微鏡工作原理
在材料顯微分析如何使用微分干涉相襯法微分干涉相襯法(DIC)作為一種前途的分析檢驗方法，具有對金相樣品的制備要求較低，所觀察到的樣品各組成相間的相對層次關系突出，呈明顯的浮雕狀，對顆粒、裂紋、孔洞以及凸起等能作出正確的判斷，能夠容易判斷許多明場下所看不到的或難于判別的一些結構細節或缺陷，可進行彩色金
微分干涉顯微鏡工作原理
在材料顯微分析如何使用微分干涉相襯法微分干涉相襯法(DIC)作為一種極具前途的分析檢驗方法，具有對金相樣品的制備要求較低，所觀察到的樣品各組成相間的相對層次關系突出，呈明顯的浮雕狀，對顆粒、裂紋、孔洞以及凸起等能作出正確的判斷，能夠容易判斷許多明場下所看不到的或難于判別的一些結構細節或缺陷，可進行彩
干涉顯微鏡的基本原理
干涉顯微鏡是利用光波的干涉原理精確測量試樣表面高度微小差別的計量儀器。按其原理可以分為多束干涉顯微鏡和雙光束干涉顯微鏡兩類。這里僅就基于雙光束干涉的顯微鏡進行論述。干涉顯微鏡是根據光波干涉原理設計制造出來的。圖1中(a)為其光學系統示意圖。由光源1發出的光線經聚光鏡2、濾色片3、光闌4及透鏡5后成平
干涉顯微鏡簡介
采用通過樣品內和樣品外的相干光束產生干涉的方法，把相位差(或光程差)轉換為振幅（光強度）變化的顯微鏡，根據干涉圖形可分辨出樣品中的結構，并可測定樣品中一定區域內的相位差或光程差。由于分開光束的方法不同，有不同類型的干涉顯微鏡，以及用于測定非均勻樣品的積分顯微鏡干涉儀。干涉顯微鏡主要用于測定活的或
干涉顯微鏡的應用
相差顯微鏡具有兩個其他顯微鏡所不具有的功能:將直射的光(視野中背景光)與經物體衍射的光分開；將大約一半的波長從相位中除去，使之不能發生相互作用，從而引起強度的變化。因此可以應用于：1.觀察未經染色的標本和活細胞。2.試樣表面粗糙度的測定如圖1所示．若被測試樣表面粗糙不平，干涉帶即成彎曲狀。由測微目鏡
干涉顯微鏡的應用
1.觀察未經染色的標本和活細胞。2.試樣表面粗糙度的測定如圖1所示．若被測試樣表面粗糙不平，干涉帶即成彎曲狀。由測微目鏡讀出相鄰量干涉帶距離口及干涉帶彎曲度b。因光程差每增加半個波長，即形成一條干涉帶，故被測試樣表面微觀的不平度的實際高度為式中，τ為光波的波長。3.材料塑性變形和相變浮凸的測量因材料
干涉顯微鏡的應用
相差顯微鏡具有兩個其他顯微鏡所不具有的功能:將直射的光(視野中背景光)與經物體衍射的光分開；將大約一半的波長從相位中除去，使之不能發生相互作用，從而引起強度的變化。因此可以應用于：1.觀察未經染色的標本和活細胞。2.試樣表面粗糙度的測定如圖1所示．若被測試樣表面粗糙不平，干涉帶即成彎曲狀。由測微目鏡
干涉顯微鏡的應用
將直射的光(視野中背景光)與經物體衍射的光分開；將大約一半的波長從相位中除去，使之不能發生相互作用，從而引起強度的變化。因此可以應用于：1.觀察未經染色的標本和活細胞。2.試樣表面粗糙度的測定如圖1所示．若被測試樣表面粗糙不平，干涉帶即成彎曲狀。由測微目鏡讀出相鄰量干涉帶距離口及干涉帶彎曲度b。因光
什么是干涉顯微鏡？
干涉顯微鏡分為雙光束和多光束兩類，采用通過樣品內和樣品外的相干光束產生干涉的方法，把相位差(或光程差)轉換為振幅（光強度）變化的顯微鏡，根據干涉圖形可分辨出樣品中的結構，并可測定樣品中一定區域內的相位差或光程差，通常測定工件加工光潔度及高度差約為1/10波長的顯微組織可采用雙光束干涉顯微鏡，林尼克干
干涉顯微鏡的功能介紹
采用通過樣品內和樣品外的相干光束產生干涉的方法，把相位差(或光程差)轉換為振幅（光強度）變化的顯微鏡，根據干涉圖形可分辨出樣品中的結構，并可測定樣品中一定區域內的相位差或光程差。由于分開光束的方法不同，有不同類型的干涉顯微鏡，以及用于測定非均勻樣品的積分顯微鏡干涉儀。干涉顯微鏡主要用于測定活的或未固
干涉顯微鏡的功能介紹
采用通過樣品內和樣品外的相干光束產生干涉的方法，把相位差(或光程差)轉換為振幅（光強度）變化的顯微鏡，根據干涉圖形可分辨出樣品中的結構，并可測定樣品中一定區域內的相位差或光程差。由于分開光束的方法不同，有不同類型的干涉顯微鏡，以及用于測定非均勻樣品的積分顯微鏡干涉儀。干涉顯微鏡主要用于測定活的或未固
干涉顯微鏡的功能介紹
采用通過樣品內和樣品外的相干光束產生干涉的方法，把相位差(或光程差)轉換為振幅（光強度）變化的顯微鏡，根據干涉圖形可分辨出樣品中的結構，并可測定樣品中一定區域內的相位差或光程差。由于分開光束的方法不同，有不同類型的干涉顯微鏡，以及用于測定非均勻樣品的積分顯微鏡干涉儀。干涉顯微鏡主要用于測定活的或未固
干涉顯微鏡的分類介紹
干涉顯微鏡分為雙光束和多光束兩類，采用通過樣品內和樣品外的相干光束產生干涉的方法，把相位差(或光程差)轉換為振幅（光強度）變化的顯微鏡，根據干涉圖形可分辨出樣品中的結構，并可測定樣品中一定區域內的相位差或光程差，通常測定工件加工光潔度及高度差約為1/10波長的顯微組織可采用雙光束干涉顯微鏡，林尼
干涉顯微鏡的結構特點
干涉顯微鏡是利用光波的干涉原理精確測量試樣表面高度微小差別的計量儀器。按其原理可以分為多束干涉顯微鏡和雙光束干涉顯微鏡兩類。這里僅就基于雙光束干涉的顯微鏡進行論述。干涉顯微鏡是根據光波干涉原理設計制造出來的。圖1中(a)為其光學系統示意圖。由光源1發出的光線經聚光鏡2、濾色片3、光闌4及透鏡5后成平
干涉顯微鏡的應用特點
應用于：1.觀察未經染色的標本和活細胞。2.試樣表面粗糙度的測定如圖1所示．若被測試樣表面粗糙不平，干涉帶即成彎曲狀。由測微目鏡讀出相鄰量干涉帶距離口及干涉帶彎曲度b。因光程差每增加半個波長，即形成一條干涉帶，故被測試樣表面微觀的不平度的實際高度為式中，τ為光波的波長。3.材料塑性變形和相變浮凸的測
干涉顯微鏡的功能介紹
采用通過樣品內和樣品外的相干光束產生干涉的方法，把相位差(或光程差)轉換為振幅（光強度）變化的顯微鏡，根據干涉圖形可分辨出樣品中的結構，并可測定樣品中一定區域內的相位差或光程差。由于分開光束的方法不同，有不同類型的干涉顯微鏡，以及用于測定非均勻樣品的積分顯微鏡干涉儀。干涉顯微鏡主要用于測定活的或未固
干涉顯微鏡的主要類型
干涉顯微鏡分為雙光束和多光束兩類，采用通過樣品內和樣品外的相干光束產生干涉的方法，把相位差(或光程差)轉換為振幅（光強度）變化的顯微鏡，根據干涉圖形可分辨出樣品中的結構，并可測定樣品中一定區域內的相位差或光程差，通常測定工件加工光潔度及高度差約為1/10波長的顯微組織可采用雙光束干涉顯微鏡，林尼克干
干涉顯微鏡的技術參數
物鏡的數值孔徑：0.65。 物鏡的工作距離：0.5 mm。 儀器的視場： 目鏡系統：φ25 mm。 照相系統：0.21mmX0.15 mm。 儀器的放大倍數： 目視系統：500X。 照相系統：168X。 測微目鏡放大倍數：12．5X。 綠色干涉濾色片波長：530 nm。 綠色
微分干涉顯微鏡的功能介紹
用于觀察活細胞顯微結構的細節，利用兩束光線通過光學系統中相位的變化發生相互干涉，從而增強樣品反差，實現對非染色活細胞觀察。微分干涉顯微鏡適于研究活細胞中較大的細胞器。將微分干涉顯微鏡接上錄像裝置，可以觀察記錄活細胞中的顆粒及細胞器的運動。
微分干涉顯微鏡的功能特點
用于觀察活細胞顯微結構的細節，利用兩束光線通過光學系統中相位的變化發生相互干涉，從而增強樣品反差，實現對非染色活細胞觀察。微分干涉顯微鏡適于研究活細胞中較大的細胞器。將微分干涉顯微鏡接上錄像裝置，可以觀察記錄活細胞中的顆粒及細胞器的運動。
微分干涉顯微鏡工作原理及實際效果展示
當兩束光通過光學系統時會發生相互干涉，如果相位相同，干涉的結果是亮度增強，反之，就會相互抵消變暗，這就是光波的干涉現象。? ? ? 微分干涉顯微鏡是以平面偏振光為光源，光線經棱鏡折射后分成兩束，在不同時間經過樣品的相鄰部位，然后經過另一棱鏡將這兩束光匯合，從而樣品中厚度上的微小差別就會轉化成明暗區別
干涉顯微鏡的主要技術參數
物鏡的數值孔徑：0.65。物鏡的工作距離：0.5 mm。儀器的視場：目鏡系統：φ25 mm。照相系統：0.21mmX0.15 mm。儀器的放大倍數：目視系統：500X。照相系統：168X。測微目鏡放大倍數：12．5X。綠色干涉濾色片波長：530 nm。綠色干涉濾色片半寬度：10 nm。
干涉顯微鏡儀器的主要技術參數
儀器的主要技術參數主要技術參數如下：物鏡的數值孔徑：0.65。物鏡的工作距離：0.5 mm。儀器的視場：目鏡系統：φ25 mm。照相系統：0.21mmX0.15 mm。儀器的放大倍數：目視系統：500X。照相系統：168X。測微目鏡放大倍數：12．5X。綠色干涉濾色片波長：530 nm。綠色干涉濾色
干涉顯微鏡的儀器的主要技術參數
物鏡的數值孔徑：0.65。物鏡的工作距離：0.5 mm。儀器的視場：目鏡系統：φ25 mm。照相系統：0.21mmX0.15 mm。儀器的放大倍數：目視系統：500X。照相系統：168X。測微目鏡放大倍數：12．5X。綠色干涉濾色片波長：530 nm。綠色干涉濾色片半寬度：10 nm。
微分干涉顯微鏡的使用及維護保養方法
?微分干涉顯微鏡集成了明場、斜照明、偏光、DIC微分干涉等多種觀察功能，為了更方便觀察，還可以添加顯示屏，解放雙眼，進行高清觀察，還可以對觀察到的圖像進行實時保存。今天沃德普儀器給大家介紹一下使用微分干涉顯微鏡的使用方法及需要注意什么地方？ 微分干涉顯微鏡使用方法： 1、根據觀察試樣所需的放大倍