染色體芯片技術大幅提高試管嬰兒成功率
目前，我國試管嬰兒技術的成功率平均僅為50%多，最大瓶頸就在于產前染色體異常的篩查。記者昨日獲悉，今年3月成立的染色體芯片產前診斷聯合實驗室(CMA)，利用針對中國人群定制的染色體芯片，能夠檢測出在常規染色體檢測中顯微鏡下無法識別的基因缺陷，可篩查出200多種已知的染色體微缺失或微重復引起的疾病。這一技術不僅可通過產前診斷達到優生目的、降低流產率，而且將會使試管嬰兒的成功率整體提高兩成達70%，尤其是將會使高齡女性做試管嬰兒的成功率提高五成。 技術：染色體芯片技術可查缺陷基因 據廣州醫科大學附屬第三醫院廣東省產科重大疾病重點實驗室主任、廣州婦產科研究所副所長孫筱放教授介紹，隨著強制婚檢的取消，近年來新生兒出生缺陷率明顯升高。目前已知的出生時嚴重出生缺陷嬰兒染色體異常的比率只有10%。而國外學者通過高通量、高分辨率的染色體芯片技術研究發現，大量以前無法確定遺傳改變的出生缺陷，實際上都是由常規染色體檢查顯微鏡下無法識......閱讀全文
我國研發出生缺陷檢測芯片－最快明年推出
9月12日，2010全國婦幼保健熱點論壇在廣州舉行。47歲的中國工程院院士程京欣然接受南方日報專訪，暢談生物芯片的研究進展與前景。他表示，針對廣東“地方病”地中海貧血的基因檢測芯片，預計明年面世。 一出生就做基因芯片檢測，可預防“一針致聾” 從去年以來，程京已經自主研發了遺傳性耳聾
NEJM：胎兒DNA檢測新時代－早早孕時期檢測染色體缺陷
DNA測序已經以一種戲劇性的全新方式進入了醫療界：在早早孕時期檢測染色體缺陷。25年來，我們知道，胎兒的DNA痕跡可以通過懷孕母親的血液來進行檢測，然而這些痕跡非常之小，而且到目前為止，我們尚沒有技術來檢測到DNA正常的多余染色體。 《新英格蘭醫學雜志》（The New England Jou
－NEJM：胎兒DNA檢測新時代－早早孕時期檢測染色體缺陷
DNA測序已經以一種戲劇性的全新方式進入了醫療界：在早早孕時期檢測染色體缺陷。25年來，我們知道，胎兒的DNA痕跡可以通過懷孕母親的血液來進行檢測，然而這些痕跡非常之小，而且到目前為止，我們尚沒有技術來檢測到DNA正常的多余染色體。 《新英格蘭醫學雜志》（The New England Jou
致胎兒缺陷的“染色體秘密”揭開
“染色體非整倍性”是導致人類不孕不育、流產、胚胎停育及胎兒缺陷的主要原因，為什么會出現“非整倍性”？多年來世界各地的研究者提出各種各樣的解釋，但都沒有揭示出問題根源。近日，山東大學張亮然教授團隊與哈佛大學Nancy Kleckner院士團隊合作，首次就該疑問提出了突破性解釋。該成果發表在近日出版
如何辨別超聲檢測缺陷和根部缺陷？
如何判定缺陷？首先要知道被檢工件的規格和材質，壁厚、直徑？鋁合金、碳鋼、不銹鋼、合金鋼？用直探頭或者測厚儀測量母材和熱影響區的厚度是必須的，有條件還要測量焊縫的厚度。其次要了解焊縫的結構，是單面焊雙面成型V型坡口還是雙面焊X型坡口？存在不等厚、錯邊？...對于情況簡單的單面焊或雙面焊超聲檢測，假設超
?涂鍍層缺陷檢測
涂鍍層缺陷檢測??D236－15A電火花檢測儀15KVD236－30A電火花檢測儀30KVD266-1電火花檢測儀主機220VT26620033-1手柄0.5 - 5KVT26620033-2手柄0.5 - 15KVT26620033-3手柄0.5 - 30KVD270-2針孔檢漏儀（濕海綿法）67
缺陷檢測算法
基本兩個步驟：1、缺陷檢出，算法較多，本人認為是不變矩陣法和主成分分析法；2、缺陷識別和分類,多數使用BP神經網絡進行訓練，提高識別率。
汽車芯片要做到零缺陷有多難？（一）
通向零缺陷的道路上需要一些新的策略。用于輔助駕駛和自主駕駛系統的下一代汽車芯片這波浪潮正在推動關鍵性的異常檢測新方法的開發進程。KLA－Tencor、Optimal＋以及西門子子公司的Mentor正在進入或擴大在異常檢測市場或相關領域的工作。異常檢測技術在各種行業已經使用多年，是實現芯片生產
汽車芯片要做到零缺陷有多難？（二）
高級駕駛輔助系統（ADAS）和自主駕駛汽車對可靠性的要求更加嚴苛。ADAS涉及汽車中的各種安全功能，如自動緊急制動、車道檢測和后方物體警告。例如，全球最大的汽車芯片制造商恩智浦最近宣布推出了一款用于汽車應用的高分辨率雷達芯片。該芯片被稱為MR3003雷達收發器，是一款77GHz雷達器件。該器
汽車芯片要做到零缺陷有多難？（三）
所有這些都是實打實的時間和真金白銀。如果芯片在經過檢測和其它過程之后符合規范，就可以把晶圓從晶圓廠發給封測廠了。這時候，壓力就轉到封測廠了。為了幫助測試，KLA－Tencor設計了一種技術方案來捕捉晶圓廠中的問題。該技術被稱為在線零件平均測試（I－PAT），它利用了PAT的概念。但是，與在測
缺陷檢測可以檢測哪些產品
缺陷檢測通常是指對物品表面缺陷的檢測，表面缺陷檢測是采用先進的機器視覺檢測技術，對工件表面的斑點、凹坑、劃痕、色差、缺損等缺陷進行檢測。
染色體芯片應用于產前檢查
2012.12.“新英格蘭醫學雜志”登哥倫比亞大學醫學中心所發表1 項臨床研究顯示，染色體芯片（Chromosomal microarray）比傳統的染色體核型分析（Karyotyping）能提供更多的臨床訊息，可以成為產前診斷的標準做法。華聯生技 “Phalanx Biotech Gr
染色體芯片應用于產前檢查
2012.12.“新英格蘭醫學雜志”登哥倫比亞大學醫學中心所發表1 項臨床研究顯示，染色體芯片（Chromosomal microarray）比傳統的染色體核型分析（Karyotyping）能提供更多的臨床訊息，可以成為產前診斷的標準做法。華聯生技 “Phalanx Biote
新技術將計算機芯片缺陷變為優勢
美國俄亥俄州立大學物理學家在最新一期《科學》雜志上報告稱，他們開發出一種技術，可通過重新排列半導體中的原子空穴，來調節摻雜其中的雜質屬性。盡管該技術目前只在實驗室中獲得成功，但研究人員認為，其對于未來的工業發展具有重大價值，隨著手機和計算機芯片的持續小型化，半導體中單個原子的行為表現將日顯重要。
表面缺陷檢測設備概述
工業產品的表面缺陷對產品的美觀度、舒適度和使用性能等帶來不良影響，所以生產企業對產品的表面缺陷進行檢測以便及時發現并加以控制。 機器視覺的檢測方法可以很大程度上克服人工檢測方法的抽檢率低、準確性不高、實時性差、效率低、勞動強度大等弊端，在現代工業中得到越來越廣泛的研究和應用。 方法以機器視覺
滲透探傷檢測什么缺陷
滲透探傷是利用毛細管作用原理檢測材料表面開口性缺陷的無損探傷方法。可檢測金屬（鋼、耐熱合金、鋁合金、鎂合金、銅合金）和非金屬（陶瓷、塑料）工件的表面開口缺陷，例如，裂紋、疏松、氣孔、夾渣、冷隔、折疊和氧化斑疤等。這些表面開口缺陷，特別是細微的表面開口缺陷，一般情況下，直接目視檢查是難以發現的。
Affymetrix公司CytoScan芯片用于兒童染色體突變診斷
2014年1月17日FDA官方網站發布消息稱：美國FDA于當天批準了Affymetrix公司的CytoScan芯片以幫助兒童的染色體突變診斷。基于血液樣品，該測試可以一次試驗就檢測出整個基因組的染色體大片段及小片段的缺失及擴增。 根據美國國家衛生研究院(National Institute
染色體核型分析與基因芯片的區別
檢測條件不同 核型分析需要新鮮的“活細胞”，需要細胞培養，若細胞培養失敗，則檢測失敗，并且細胞生長周期比較長，因此核型分析的報告周期比較長。 基因芯片檢測對象為DNA，不需要細胞培養，成功率高，報告周期短。 檢測分辨率不同 芯片依賴其密布的探針，檢測染色體上對應位點的信號，來判斷同一染色
染色體核型分析與基因芯片的區別
檢測條件不同 核型分析需要新鮮的“活細胞”，需要細胞培養，若細胞培養失敗，則檢測失敗，并且細胞生長周期比較長，因此核型分析的報告周期比較長。 基因芯片檢測對象為DNA，不需要細胞培養，成功率高，報告周期短。 檢測分辨率不同 芯片依賴其密布的探針，檢測染色體上對應位點的信號，來判斷同一染色
磁粉探傷檢測什么缺陷
主要是檢測表面缺陷，磁粉探傷利用工件缺陷處的漏磁場與磁粉的相互作用，它利用了鋼鐵制品表面和近表面缺陷（如裂紋，夾渣，發紋等）磁導率和鋼鐵磁導率的差異，磁化后這些材料不連續處的磁場將發生畸變，形成部分磁通泄漏處工件表面產生了漏磁場，從而吸引磁粉形成缺陷處的磁粉堆積——磁痕，在適當的光照條件下，顯現出缺
“看到”內部缺陷的無損檢測
焊接生產過程的原材料、半成品、成品的質量以及工藝過程需要根據產品的有關標準和技術要求進行檢查和驗證。為了保證產品符合質量要求，防止廢品的產生。焊接質量檢驗關系到生產制造企業和社會的效益，也關系到客戶的權益。無損檢測技術是焊接質量最常使用的檢測方式。 何為無損？ 無損檢測技術是在不損傷被檢測對
染色體核型分析和基因芯片檢查的關系
色體核型分析常規染色體核型分析就是檢測人類“生命的天書”中是否存在某些章節“漏印”、“多印”或“錯印”，即染色體的數量或結構是否發生改變，從而排除染色體疾病。常見的染色體疾病包括：21三體綜合征（即唐氏綜合征），18三體綜合征，13三體綜合征，Turner綜合征，Klifelter綜合征，染色體易位
試管嬰兒成功率提至70％
??????? 目前，我國試管嬰兒技術的成功率平均僅為50%多，最大瓶頸就在于產前染色體異常的篩查。記者昨日獲悉，今年3月成立的染色體芯片產前診斷聯合實驗室(CMA)，利用針對中國人群定制的染色體芯片，能夠檢測出在常規染色體檢測中顯微鏡下無法識別的基因缺陷，可篩查出200多種已知的染色體微缺失或微重
染色體芯片技術大幅提高試管嬰兒成功率
目前，我國試管嬰兒技術的成功率平均僅為50%多，最大瓶頸就在于產前染色體異常的篩查。記者昨日獲悉，今年3月成立的染色體芯片產前診斷聯合實驗室(CMA)，利用針對中國人群定制的染色體芯片，能夠檢測出在常規染色體檢測中顯微鏡下無法識別的基因缺陷，可篩查出200多種已知的染色體微缺失或微重復引起的疾病
染色體檢查能檢查出所有遺傳病人基因缺陷嗎
染色體檢查有很多種。采用的技術手段也不一樣。現在醫院采用的染色體核型分析只能分析特別大明顯的的染色體變化，細小的就不行了。因此，其他方面查不出原因的話，一般醫院的染色體分型也查不出來。佳學基因推出一種高精度染色體掃描分析技術，逐一分析最小的染色體組成單位。通過這種染色體檢查能夠檢查已知的大多數基
蛋白芯片檢測Hp
大淵幽門螺旋桿菌（HP）IgG抗體蛋白芯片檢測系統（PBT-HP-01-A型芯片）是一種定性的蛋白芯片，共放有細胞毒素相關蛋白（CagA），尿素酶C（ureC）二個指標，采用間接法原理，特異性強，靈敏度高。標記方法為免疫金標記。 大淵幽門螺旋桿菌（HP）現癥蛋白芯片鑒定檢測系統（PBT-HP-02
基因芯片檢測原理
雜交信號的檢測是DNA芯片技術中的重要組成部分。以往的研究中已形成許多種探測分子雜交的方法，如熒光顯微鏡、隱逝波傳感器、光散射表面共振、電化傳感器、化學發光、熒光各向異性等等，但并非每種方法都適用于DNA芯片。由于DNA芯片本身的結構及性質，需要確定雜交信號在芯片上的位置，尤其是大規模DNA芯片由于
蛋白芯片檢測ENA
?大淵自身抗體九項IgG抗體蛋白芯片檢測系統是一種定性的蛋白芯片，共集合有抗dsDNA抗體、抗Histone抗體、 抗Smith抗體、抗SSA抗體、抗SSB抗體、抗Scl-70抗體、抗JO-1抗體、抗Rib-P抗體、抗RNP抗體九個指標。采用間接法原理，特異性強，靈敏度高。標記方法為膠體金標
基因檢測染色體分析
染色體分析直接檢測染色體數目及結構的異常，而不是檢查某條染色體上某個基因的突變或異常。通常用來診斷胎兒的異常。 常見的染色體異常是多一條染色體，檢測用的細胞來自血液樣本，若是胎兒，則通過羊膜穿刺或絨毛膜絨毛取樣獲得細胞。將之染色，讓染色體凸顯出來，然后用高倍顯微鏡觀察是否有異常。
人類免疫缺陷病毒的抗原檢測
第四代艾滋病病毒抗原抗體檢測可以同時檢出艾滋病病毒抗體和HIVp24抗原，廣泛用于臨床。與單純抗體檢測相比，提高了準確性，尤其是對慢性艾滋病病毒感染者的敏感性和特異性接近100%。此外，第四代艾滋病病毒檢測將艾滋病窗口期縮短至14～21天，有助于早期發現艾滋病病毒感染。不足之處是，增加了非特異性