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掃描探針顯微鏡通常用來對微納米尺度樣品的表面結構與性質進行表征,對形貌表征具有極高的空間分辨率,通過處理和分析微探針與樣品之間的各種相互作用力,可以精確研究樣品局部的電學、力學性質。微放電是一種將放電限制在有限空間內的氣體放電,在大氣壓下當電極尺寸縮小到一定程度時,空氣放電機理與長間隙空氣放電有明顯不同。利用掃描探針顯微鏡在大氣壓下進行微放電試驗,不僅電極結構容易搭建,還可以實現對放電微區的形貌和性質改變進行原位表征,有利于進行微間隙空氣放電機理的研究。經典放電理論能夠對宏觀放電現象進行較為準確的解釋,并且可以對相應放電的應用提供理論支持,而通常用來解釋小間隙、低氣壓下放電現象的湯遜放電理論不能合理解釋介觀尺度的空氣放電現象。 所以為了深入探究微小間隙空氣放電特性和確定場致發射對微放電的作用和機理,為微放電等離子體的高效生產提供理論基礎,基于手動精密......閱讀全文
掃描探針顯微鏡的基本工作原理是利用探針與樣品表面原子分子的相互作用，即當探針與樣品表面接近至納米尺度時形成的各種相互作用的物理場，通過檢測相應的物理量而獲得樣品表面形貌。掃描探針顯微鏡豐要由探針、掃描器、位移傳感器、控制器、檢測系統和圖像系統5部分組成。 控
紫外吸收光譜 UV 分析原理：吸收紫外光能量，引起分子中電子能級的躍遷 譜圖的表示方法：相對吸收光能量隨吸收光波長的變化 提供的信息：吸收峰的位置、強度和形狀，提供分子中不同電子結構的信息 熒光光譜法 FS 分析原理：被電磁輻射激發后，從最低單線激發態回到單線基態，發射熒光
化學分析是測定單礦物的一種比較重要的分析方法，但樣品需破碎、淘洗、磁選、人工鏡下挑選、研磨、溶礦（酸溶或堿熔）、檢測等分析流程，效率極其低下。 銅礦物在自然界存在形式多樣，有原生帶次生富集帶和氧化帶等，共生礦物和伴生礦物眾多，各類礦物均存在類質同象（例如黝銅礦和砷黝銅礦）或者鏡下光學特
(十九)交通運輸設備制造業 1. 汽車發動機制造及發動機研發機構建設：升功率不低于55千瓦的汽油發動機、升功率不低于45千瓦的排量3升以下柴油發動機、升功率不低于35千瓦的排量3升以上柴油發動機、燃料電池和混合燃料等新能源發動機制造 2. 汽車關鍵零部件制造及關鍵技術研發：雙離合器變
二次離子質譜（secondary ion mass spectroscopy），是一種非常靈敏的表面成份精密分析儀器，它是通過高能量的一次離子束轟擊樣品表面，使樣品表面的分析吸收能量而從表面發生濺射產生二次粒子,通過質量分析器收集、分析這些二次離子，就可以得到關于樣品表面信息的圖譜。中文名 二次離子
原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope,AFM)是在1986年由掃描隧道顯微鏡(Scanning Tunneling Mi-croscope,STM)的發明者之一的Gerd Binnig博士在美國斯坦福大學與Quate C F和Gerber C等人研制成功的一種新型的顯微鏡[1
最近需要做成骨細胞培養的實驗，師兄給個建議，說是可以做激光共聚焦顯微鏡 檢測。關于這個我還真不知道該如何下手設計這個實驗，網上搜集了一些資料，分享給大家，供參考。激光掃描共聚焦顯微鏡(laser scanning confocal microscope LSCM )是20世紀80年代發展起
一種金屬或合金的性能取決于其本身的兩個屬性：一個是它的化學成分，另一個是它內部的組織結構。所以，對金屬材料的成分和組織結構進行精確表征是金屬材料研究的基本要求，也是實現性能控制的前提。材料分析的內容主要包括形貌分析、物相分析、成分分析、熱性能分析、電性能分析等。本文就金屬材料的形貌分析、物相分析
樣品物象的表征包括形貌、粒度和晶相三個方面。物相分析一般使用 X－射線粉末衍射儀（XRD）和電子顯微鏡。形貌和粒度可通過掃描電鏡（SEM）和透射電鏡（TEM）直接觀測到粒子的大小和形狀。但由于電鏡只能觀測局部區域，可能產生較大的統計誤差。晶粒（注意粒子的大小和晶粒的大小不是一個概念，在多數情況下
分析測試百科網訊 明亮的落地玻璃窗，琳瑯滿目的儀器設備，嚴肅認真的研究人員穿梭忙碌。這是分析測試百科小編對復旦大學先進材料實驗室的第一印象。 復旦大學先進材料實驗室是教育部“985工程”二期重點建設項目之一，于2005年4月成立，通過物理、化學、生物、材料、信息、
紫外吸收光譜 UV 分析原理：吸收紫外光能量，引起分子中電子能級的躍遷 譜圖的表示方法：相對吸收光能量隨吸收光波長的變化 提供的信息：吸收峰的位置、強度和形狀，提供分子中不同電子結構的信息熒光光譜法 FS 分析原理：被電磁輻射激發后，從最低單線激發態回到單線基態，發射熒光 譜圖的表
儀器分析是化學學科的一個重要分支，它是以物質的物理和物理化學性質為基礎建立起來的一種分析方法。利用較特殊的儀器，對物質進行定性分析，定量分析，形態分析。儀器分析方法所包括的分析方法很多。目前，有數十種之多。每一種分析方法所依據的原理不同，所測量的物理量不同，操作過程及應用情況也不同。 儀器分析
儀器分析是化學學科的一個重要分支，它是以物質的物理和物理化學性質為基礎建立起來的一種分析方法。利用較特殊的儀器，對物質進行定性分析，定量分析，形態分析。儀器分析方法所包括的分析方法很多。目前，有數十種之多。每一種分析方法所依據的原理不同，所測量的物理量不同，操作過程及應用情況也不同。 儀器分析
一、2011年全國材料科學電子顯微學會議通知 隨著電子顯微學事業的飛躍發展，材料的電子顯微表征技術日新月異。具有場發射槍的高空間分辨分析型TEM，使人們可以采用高分辨技術、微衍射、電子能譜、電子能量損失譜對納米尺度的區域進行形貌、結構、成分分析。球差校正TEM又將點分辨率提高到0.0
生物顯微鏡掃描電鏡是六十年代發展起來的一種精密電子學儀器。利用它可以觀察塊狀樣品的表面形態，從而得出有關樣品立體結構的概念。掃描電鏡的工作原理可以借助于圖3—1來說明。它由三部分構成：（一）電子光學系統，包括電子槍，磁透鏡相掃描線圈等。它能產生符合一定要求的電子束，（二）樣品室，這是電子束與樣品相互
核酸分子雜交技術由于核酸分子雜交的高度特異性及檢測方法的靈敏性，它已成為分子生物學中最常用的基本技術，被廣泛應用于基因克隆的篩選，酶切圖譜的制作，基因序列的定量和定性分析及基因突變的檢測等。其基本原理是具有一定同源性的原條核酸單鏈在一定的條件下（適宜的溫室度及離子強度等）可按堿基互補原成雙鏈。雜交的
原子力顯微鏡提供原子或近原子解析度的表面形貌圖像，能夠定量樣品的表面粗糙度到＂?＂等級。除了提供表面圖像之外，AFM也可以提供形態的定量測量，如高度差和其他尺寸。可提供三維表面形態影像，包括表面粗糙度、粒徑大小、高度差和間距，其他樣品特性的成像，包括磁場、電容
原子力顯微鏡提供原子或近原子解析度的表面形貌圖像，能夠定量樣品的表面粗糙度到＂?＂等級。除了提供表面圖像之外，AFM也可以提供形態的定量測量，如高度差和其他尺寸。可提供三維表面形態影像，包括表面粗糙度、粒徑大小、高度差和間距，其他樣品特性的成像，包括磁場、電容、摩擦力和相位。
原子力顯微鏡（Atomic Force Microscopy, AFM）是繼掃描隧道顯微鏡（Scanning Tunneling Microscopy, STM）之后發明的一種具有原子級高分辨的新型儀器，可以在大氣和液體環境下對各種材料和樣品進行納米區域的物理性質包括形貌進行探測。本標準文本將概述納
一、原子力顯微鏡的概述 原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope ，AFM），一種可用來研究包括導體、半導體和絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器。它的橫向分辨率可達0.15m，而縱向分辨率可達0.05m，AFM最大的特點是可以測量表面原子之間的力，AFM可測量的最小
——紀念我國光譜事業30年，第十五屆全國分子光譜學學術會議專家采訪報道系列 在這個豐收的金秋季節，我國的光譜學界也迎來了屬于自己的收獲――第十五屆全國分子光譜學學術會議在京隆重召開。此次會議的規模、參會人數以及期刊論文數
原子力顯微鏡作為掃描探針顯微鏡的一個重要成員，是納米科學技術中的主要工具之一。由于具有納米甚至原子量級的超高分辨率和柔性的測量環境要求使得原子力顯微鏡在納米科技各領域，例如納米計量、表面科學和生物科學等中的應用愈來愈廣泛。 本文主要從多個側面研究原子力顯微鏡應用的若干重要問題。首先，探討原子力顯微鏡
其他模式 除了三種常見的三種工作模式外，原子力顯微鏡還可以進行下面的工作： 1、橫向力顯微鏡（LFM） 橫向力顯微鏡（LF
三、地質和礦物學中的應用礦物是指具有明確的成分和晶體結構的結晶相。早期礦物成分的數據使用物理分離和化學方法取得的。由于分離不完善，以及交叉生長細小相的影響，常常得出錯誤的結果。利用探針分析和掃描圖像觀察，對礦物學研究有突出的作用，它能用電子圖像的成分對比度和特征x射線圖像分布，觀察礦物中的元素分布及
熱差分析 DTA 分析原理 ：樣品與參比物處于同一控溫環境中，由于二者導熱系數不同產生溫差，記錄溫度隨環境溫度或時間的變化 譜圖的表示方法 ：溫差隨環境溫度或時間的變化曲線 提供的信息 ：提供聚合物熱轉變溫度及各種熱效應的信息 示差掃描量熱分析 DSC
它主要由帶針尖的微懸臂、微懸臂運動檢測裝置、監控其運動的反饋回路、使樣品進行掃描的壓電陶瓷掃描器件、計算機控制的圖像采集、顯示及處理系統組成。微懸臂運動可用如隧道電流檢測等電學方法或光束偏轉法、干涉法等光學方法檢測，當針尖與樣品充分接近相互之間存在短程相互斥力時，檢測該斥力可獲得表面原子級分辨圖像，
透射電子顯微鏡 (transmission electron microscopy﹐簡寫為TEM)。 構造原理 ： 電子顯微鏡的構造原理與光學顯微鏡相似﹐主要由照明系統和成像系統構成(圖1 光學顯微鏡與電子顯微鏡的對比 )。照明系統包括電子槍和聚光鏡。鎢絲在真空中加熱并在電場的作用下發射出電
微區電化學顯微鏡是一款精密的掃描微電極系統，具有極高空間分辨率，在溶液中可檢測電流或施加電流于微電極與樣品之間。是一種無接觸，無破壞性的儀器，可以用于測量導電，涂膜，或半導體材料，與樣品探針之間的功函差。這種技術是用一個振動電容探針來工作的，通過調節一個外加的前級電壓測量樣品表面和掃描探針的參比針
二次離子質譜儀原理簡介二次離子質譜儀（Secondary Ion Mass Spectrometry, SIMS）又稱離子探針（Ion Microprobe），是一種利用高能離子束轟擊樣品產生二次離子幵迚行質譜測定的儀器，可 以對固體或薄膜樣品迚行高精度的微區原位元素和同位素分析。由于地學樣品的復雜
近場光學顯微鏡是對于常規光學顯微鏡的革命。它不用光學透鏡成像,而用探針的針尖在樣品表面上方掃描獲得樣品表面的信息。分析了傳統光學顯微鏡與近場光學顯微鏡成像原理的物理本質和兩種顯微鏡系統結構的異同點。介紹了光纖探針的制作方法。重點討論了近場探測原理、光學隧道效