X射線熒光光譜儀可以測哪些元素
一般從鈉（11）~鈾（92）之間的元素都可以測試（元素周期表上11~19號元素）......閱讀全文
X射線熒光光譜儀可以測哪些元素
一般從鈉（11）~鈾（92）之間的元素都可以測試（元素周期表上11~19號元素）
X射線熒光光譜儀可以測哪些元素
一般從鈉（11）~鈾（92）之間的元素都可以測試（元素周期表上11~19號元素）
X射線熒光光譜儀測量元素范圍
X射線熒光光譜儀可以對各種樣品的元素組成進行定量分析，包括壓片、融珠、粉末液體、甚至是龐大的樣品。它使用一種高功率X射線管達到了檢測限低和測量時間短的效果。輕元素的zui佳檢測也通過優激發、檢測和真空模式的結合而實現所以成本低。 X射線熒光分析儀測量元素范圍：原子序數為9～92[氟（F）到鈾（
X射線熒光光譜儀用來測什么的？
X熒光光譜儀主要由激發源（X射線管）和探測系統構成。其原理就是：X射線管通過產生入射X射線（一次X射線），來激發被測樣品。受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線（又叫X熒光），并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量或
X射線熒光光譜儀X射線防護系統出現故障可以怎么樣解決
X射線熒光光譜儀是一種常用的光譜儀產品，可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。主要由激發、色散、探測、記錄及數據處理等單元組成。激發單元的作用是產生初級X射線。它由高壓發生器和X光管組成。后者功率較大，用水和油同時冷卻。色散單元的作用是分
ICP做元素分析，可以測哪些元素
ICP根據檢測器的不同分為ICP-OES(電感耦合等離子發射光譜儀，古代人也稱ICP-AES)和ICP-MS(電感耦合等離子質譜儀)。兩者能測元素周期表中的絕大部分元素，兩者之間能測得元素稍有差異，檢出能力上后者要比前者高，當然價格上也貴很多，不過一般來說ICP-OES也就夠用了。ICP測試一般要對
ICP做元素分析，可以測哪些元素
ICP元素測試：電感耦合等離子發射光譜儀（ICP） 是根據處于激發態的待測元素原子回到基態時發射的特征譜線對待測元素進行分析的儀器。ICP主要應用于 無機元素的定性及定量分析 。 ICP-OES可同時測定元素周期表中多數元素（金屬元素及磷、硅、砷、硼等非金屬元素），且均有較好的檢出限。檢測器線性范圍
ICP做元素分析，可以測哪些元素
ICP根據檢測器的不同分為ICP-OES(電感耦合等離子發射光譜儀，古代人也稱ICP-AES)和ICP-MS(電感耦合等離子質譜儀)。兩者能測元素周期表中的絕大部分元素，兩者之間能測得元素稍有差異，檢出能力上后者要比前者高，當然價格上也貴很多，不過一般來說ICP-OES也就夠用了。ICP測試一般要對
ICP做元素分析，可以測哪些元素
ICP元素測試：電感耦合等離子發射光譜儀（ICP） 是根據處于激發態的待測元素原子回到基態時發射的特征譜線對待測元素進行分析的儀器。ICP主要應用于 無機元素的定性及定量分析 。 ICP-OES可同時測定元素周期表中多數元素（金屬元素及磷、硅、砷、硼等非金屬元素），且均有較好的檢出限。檢測器線性范圍
ICP做元素分析，可以測哪些元素
ICP元素測試：電感耦合等離子發射光譜儀（ICP） 是根據處于激發態的待測元素原子回到基態時發射的特征譜線對待測元素進行分析的儀器。ICP主要應用于 無機元素的定性及定量分析 。 ICP-OES可同時測定元素周期表中多數元素（金屬元素及磷、硅、砷、硼等非金屬元素），且均有較好的檢出限。檢測器線性范圍
ICP做元素分析，可以測哪些元素
ICP元素測試：電感耦合等離子發射光譜儀（ICP） 是根據處于激發態的待測元素原子回到基態時發射的特征譜線對待測元素進行分析的儀器。ICP主要應用于 無機元素的定性及定量分析 。 ICP-OES可同時測定元素周期表中多數元素（金屬元素及磷、硅、砷、硼等非金屬元素），且均有較好的檢出限。檢測器線性范圍
ICP做元素分析，可以測哪些元素
ICP根據檢測器的不同分為ICP-OES(電感耦合等離子發射光譜儀，古代人也稱ICP-AES)和ICP-MS(電感耦合等離子質譜儀)。兩者能測元素周期表中的絕大部分元素，兩者之間能測得元素稍有差異，檢出能力上后者要比前者高，當然價格上也貴很多，不過一般來說ICP-OES也就夠用了。ICP測試一般要對
X射線熒光光譜儀檢測金屬元素的介紹
當使用X射線光照樣品時，樣品可以被激發出各種波長的熒光X射線，把混合的X射線按波長（或能量）分開，分別測量不同波長（或能量）的X射線的強度，就可以進行定性和定量分析，為此使用的儀器為X射線熒光光譜儀（以下簡稱XRF）。 實驗室如何利用XRF這種較為成熟的分析技術檢測固體樣品中的金屬元素？微源實
波長色散X射線熒光光譜儀快速定量元素分析
低原子序數性能、Mapping分析和多點分析?提供的性能和靈活性用來分析復雜樣品，結合了較為先進的Mapping分析包來檢測均質性和夾雜物，ZSX Primus中具有一個30μm的X射線管（工業中薄端窗的X射線管），用于特殊輕元素（低原子序數）檢出限。ZSX Primus簡單地提供了其他分析方法無法
X－射線熒光光譜儀
用X射線照射試樣時，試樣可以被激發出各種波長的熒光X射線，需要把混合的X射線按波長（或能量）分開，分別測量不同波長（或能量）的X射線的強度，以進行定性和定量分析，為此使用的儀器叫X射線熒光光譜儀。由于X光具有一定波長，同時又有一定能量，因此，X射線熒光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型和能量色散型。圖
X射線熒光光譜儀X射線吸收的介紹
當X射線穿過物質時，一方面受散射作用偏離原來的傳播方向，另一方面還會經受光電吸收。光電吸收效應會產生X射線熒光和俄歇吸收，散射則包含了彈性和非彈性散射作用過程。 當一單色X射線穿過均勻物體時，其初始強度將由I0衰減至出射強度Ix，X射線的衰減符合指數衰減定律： 式中，μ為質量衰減系數；ρ為樣
X射線熒光光譜儀X射線的衍射介紹
相干散射與干涉現象相互作用的結果可產生X射線的衍射。X射線衍射與晶格排列密切相關，可用于研究物質的結構。 其中一種用已知波長λ的X射線來照射晶體樣品，測量衍射線的角度與強度，從而推斷樣品的結構，這就是X射線衍射結構分析（XRD）。 另一種是讓樣品中發射出來的特征X射線照射晶面間距d已知的晶體
X射線熒光光譜儀X射線散射的介紹
除光電吸收外，入射光子還可與原子碰撞，在各個方向上發生散射。散射作用分為兩種，即相干散射和非相干散射。 相干散射：當X射線照射到樣品上時，X射線便與樣品中的原子相互作用，帶電的電子和原子核就跟隨著X射線電磁波的周期變化的電磁場而振動。因原子核的質量比電子大得多，原子核的振動可忽略不計，主要是原
X射線熒光光譜儀X射線光管結構
常規X射線光管主要采用端窗和側窗兩種設計。普通X射線光管一般由真空玻璃管、陰極燈絲、陽極靶、鈹窗以及聚焦柵極組成，并利用高壓電纜與高壓發生器相接，同時高功率光管還需要配有冷卻系統。側窗和端窗X射線光管結構如圖6和圖7所示。 當電流流經X射線光管燈絲線圈時，引起陰極燈絲發熱發光，并向四周發射電子
概述X射線熒光光譜儀X射線的產生
根據經典電磁理論，運動的帶電粒子的運動速度發生改變時會向外輻射電磁波。實驗室中常用的X射線源便是利用這一原理產生的：利用被高壓加速的電子轟擊金屬靶，電子被金屬靶所減速，便向外輻射X射線。這些X射線中既包含了連續譜線，也包括了特征譜線。 1、連續譜線 連續光譜是由高能的帶電粒子撞擊金屬靶面時受
基于X射線熒光的指紋元素成像
中國科學院高能物理研究所王萌研究員 中國科學院高能物理研究所王萌研究員發表主題為“基于X射線熒光的指紋元素成像”的精彩報告。指紋中化學元素可為科學研究和應用提供豐富信息。應用同步輻射X射線熒光儀可分析指紋元素，生成元素成像圖。課題組分析了在不同基底上的防曬霜指紋，得到了鈦和鋅的指紋成像圖以及元素比
X射線熒光光譜儀和X射線熒光能譜儀特點對比
X射線熒光光譜儀和X射線熒光能譜儀各有優缺點。前者分辨率高，對輕、重元素測定的適應性廣。對高低含量的元素測定靈敏度均能滿足要求。后者的X射線探測的幾何效率可提高2～3數量級，靈敏度高。可以對能量范圍很寬的X射線同時進行能量分辨(定性分析)和定量測定。對于能量小于2萬電子伏特左右的能譜的分辨率差。
X射線熒光光譜儀的產品原理有哪些？
X射線熒光光譜儀的產品原理有哪些？X射線熒光光譜儀（X-ray Fluorescence Spectrometer，簡稱：XRF光譜儀），是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。X射線熒光（X-ray fluorescence，XRF）是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發出的次級X射線。這種現象被
X射線熒光光譜儀優點
X射線熒光光譜儀優點：1)可在一臺儀器上可實現掃描式X射線波長色散分析、X射線能量色散分析、X-射線聚焦微小區域分析、游離氧化鈣X射線衍射分析。2)波長色散通道（波譜核）和能量色散通道（能譜核）可同時分別得到Be-?Am?和Na-Am?所有元素的光譜數據和定量分析結果。3)軟件可以得到上述各種分析技
x射線熒光光譜儀簡介
x射線熒光光譜儀提供了一種最簡單，最準確，最經濟的分析方法，可用于確定多種類型材料的化學成分。它是無損且可靠的，不需要或只需很少的樣品制備，適用于固體，液體和粉末狀樣品。它可以用于從鈉到鈾的多種元素，并提供亞ppm級以下的檢測限；它也可以輕松，同時地測量高達100％的濃度。
X射線熒光光譜儀概述
X射線熒光光譜儀具有重現性好，測量速度快，靈敏度高的特點。能分析B(5)～U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。無標半定量方法可以對各種形狀樣品定性分析，并能給出半定量結果，結果準確度對某些樣品可以接近定量水
X射線熒光光譜儀簡介
X射線熒光光譜儀具有重現性好，測量速度快，靈敏度高的特點。能分析F(9)～U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。無標半定量方法可以對各種形狀樣品定性分析，并能給出半定量結果，結果準確度對某些樣品可以接近定量水
X射線熒光光譜儀(XRF)
原理：用一束X射線或低能光線照射樣品材料，致使樣品發射二次特征X射線，也叫X射線熒光。這些X射線熒光的能量或波長是特征的，樣品中元素的濃度直接決定射線的強度。從而根據特征能量線鑒別元素的種類，根據譜線強度來進行定量分析。XRF有波長散射型(WDXRF)和能量散射型(EDXRF)兩種，前者測量精密度好
X射線熒光光譜儀結構
該系統由X射線發生器、光譜儀主體部分、電氣部分及系統控制器、計算機部分組成。3.1?X射線發生器 X射線發生器由高壓變壓器及管流管壓控制單元、X射線管、熱交換器。?3.1.1高壓變壓器及管流管壓控制單元 產生高穩定的高壓加到X射線管上用以產生X射線。這里利用高電壓加速的高速電子轟擊X射線管金屬靶面產
X射線熒光光譜儀（XRF）
自1895年倫琴發現X射線以來，X射線及相關技術的研究和應用取得了豐碩成果。其中，1910年特征X射線光譜的發現，為X射線光譜學的建立奠定了基礎；20世紀50年代商用X射線發射與熒光光譜儀的問世，使得X射線光譜學技術進入了實用階段；60年代能量色散型X射線光譜儀的出現，促進了X射線光譜學儀器的迅