透射電子顯微鏡的簡介
電子顯微鏡與光學顯微鏡的成像原理基本一樣，所不同的是前者用電子束作光源，用電磁場作透鏡。另外，由于電子束的穿透力很弱，因此用于電鏡的標本須制成厚度約50nm左右的超薄切片。這種切片需要用超薄切片機（ultramicrotome）制作。電子顯微鏡的放大倍數最高可達近百萬倍、由照明系統、成像系統、真空系統、記錄系統、電源系統5部分構成，如果細分的話：主體部分是電子透鏡和顯像記錄系統，由置于真空中的電子槍、聚光鏡、物樣室、 物鏡、衍射鏡、中間鏡、 投影鏡、熒光屏和照相機。 電子顯微鏡是使用電子來展示物件的內部或表面的顯微鏡。高速的電子的波長比可見光的波長短（波粒二象性），而顯微鏡的分辨率受其使用的波長的限制，因此電子顯微鏡的理論分辨率（約0.1納米）遠高于光學顯微鏡的分辨率（約200納米）。 透射電子顯微鏡（Transmission electron microscope，縮寫TEM），簡稱透射電鏡 [1] ，是把經加速和聚集......閱讀全文
透射電子顯微鏡的簡介
透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope，簡稱TEM)，可以看到在光學顯微鏡下無法看清的小于0.2um的細微結構，這些結構稱為亞顯微結構或超微結構。要想看清這些結構，就必須選擇波長更短的光源，以提高顯微鏡的分辨率。1932年Ruska發明了以電子束為光源的透射
透射電子顯微鏡的簡介
電子顯微鏡與光學顯微鏡的成像原理基本一樣，所不同的是前者用電子束作光源，用電磁場作透鏡。另外，由于電子束的穿透力很弱，因此用于電鏡的標本須制成厚度約50nm左右的超薄切片。這種切片需要用超薄切片機（ultramicrotome）制作。電子顯微鏡的放大倍數最高可達近百萬倍、由照明系統、成像系統、真空系
透射電子顯微鏡的簡介
電子顯微鏡與光學顯微鏡的成像原理基本一樣，所不同的是前者用電子束作光源，用電磁場作透鏡。另外，由于電子束的穿透力很弱，因此用于電鏡的標本須制成厚度約50nm左右的超薄切片。這種切片需要用超薄切片機（ultramicrotome）制作。電子顯微鏡的放大倍數最高可達近百萬倍、由照明系統、成像系統、真
透射電子顯微鏡簡介
電子顯微鏡與光學顯微鏡的成像原理基本一樣，所不同的是前者用電子束作光源，用電磁場作透鏡。另外，由于電子束的穿透力很弱，因此用于電鏡的標本須制成厚度約50nm左右的超薄切片。這種切片需要用超薄切片機（ultramicrotome）制作。電子顯微鏡的放大倍數最高可達近百萬倍、由照明系統、成像系統、真
簡介透射電子顯微鏡的用途
電子顯微鏡是使用電子來展示物件的內部或表面的顯微鏡。高速的電子的波長比可見光的波長短（波粒二象性），而顯微鏡的分辨率受其使用的波長的限制，因此電子顯微鏡的理論分辨率（約0.1納米）遠高于光學顯微鏡的分辨率（約200納米）。 透射電子顯微鏡（Transmission electron micro
TEM透射電子顯微鏡的簡介
TEM透射電子顯微鏡（Transmission electron microscope，縮寫TEM），簡稱透射電鏡，是把經加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度相關，因此可以形成明暗不同的影像。通常，透射電子顯
關于透射電子顯微鏡的簡介
透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope，簡稱TEM)，可以看到在光學顯微鏡下無法看清的小于0.2um的細微結構，這些結構稱為亞顯微結構或超微結構。要想看清這些結構，就必須選擇波長更短的光源，以提高顯微鏡的分辨率。1932年Ruska發明了以電子束為光源的
透射電子顯微鏡的歷史簡介
恩斯特·阿貝最開始指出，對物體細節的分辨率受到用于成像的光波波長的限制，因此使用光學顯微鏡僅能對微米級的結構進行放大觀察。通過使用由奧古斯特·柯勒和莫里茨·馮·羅爾研制的紫外光顯微鏡，可以將極限分辨率提升約一倍。然而，由于常用的玻璃會吸收紫外線，這種方法需要更昂貴的石英光學元件。當時人們認為由于
掃描透射電子顯微鏡簡介
掃描透射電子顯微鏡(scanning transmission electron microscopy，STEM)既有透射電子顯微鏡又有掃描電子顯微鏡的顯微鏡。STEM用電子束在樣品的表面掃描，通過電子穿透樣品成像。STEM技術要求較高，要非常高的真空度，并且電子學系統比TEM和SEM都要復雜。
透射電子顯微鏡成像設備簡介
TEM的成像系統包括一個可能由顆粒極細（10-100微米）的硫化鋅制成熒光屏，可以向操作者提供直接的圖像。此外，還可以使用基于膠片或者基于CCD的圖像記錄系統。通常這些設備可以由操作人員根據需要從電子束通路中移除或者插入通路中。
簡介透射電子顯微鏡相襯技術
晶體結構可以通過高分辨率透射電子顯微鏡來研究，這種技術也被稱為相襯顯微技術。當使用場發射電子源的時候，觀測圖像通過由電子與樣品相互作用導致的電子波相位的差別重構得出。然而由于圖像還依賴于射在屏幕上的電子的數量，對相襯圖像的識別更加復雜。然而，這種成像方法的優勢在于可以提供有關樣品的更多信息。
透射電子顯微鏡真空系統簡介
電鏡鏡筒內的電子束通道對真空度要求很高，電鏡工作必須保持在10-3～10Pa以上的真空度（高性能的電鏡對真空度的要求更達10Pa以上），因為鏡筒中的殘留氣體分子如果與高速電子碰撞，就會產生電離放電和散射電子，從而引起電子束不穩定，增加像差，污染樣品，并且殘留氣體將加速高熱燈絲的氧化，縮短燈絲壽命
透射電子顯微鏡機械泵的簡介
機械泵因在其他場合使用非常廣泛而比較常見，它工作時是靠泵體內的旋轉葉輪刮片將空氣吸入、壓縮、排放到外界的。機械泵的抽氣速度每分鐘僅為160L左右 ，工作能力也只能達到0.1～0.01Pa，遠不能滿足電鏡鏡筒對真空度的要求，所以機械泵只做為真空系統的前級泵來使用。
簡介透射電子顯微鏡對檢測樣品的要求
由于受電鏡高壓限制，透射電子束一般只能穿透厚度為幾十納米以下的薄層樣品。 除微細粒狀樣品可以通過介質分散法并直接滴樣外，其它樣品的制備方法主要有物理減薄(離子和雙噴減薄等)和超薄切片法。 一般情況下，需要采用物理減薄法的樣品制備過程，須由用戶自己完成(不具備此制樣條件的院系，可租用本室的相關
透射電子顯微鏡電子槍的相關簡介
還有一種新型的電子槍場發射式電子槍，由1個陰極和2個陽極構成，第1陽極上施加一稍低（相對第2陽極）的吸附電壓，用以將陰極上面的自由電子吸引出來，而第2陽極上面的極高電壓，將自由電子加速到很高的速度發射出電子束流。這需要超高電壓和超高真空為工作條件，它工作時要求真空度達到10-7Pa，熱損耗極小，
關于透射電子顯微鏡的簡介電子能量損失介紹
透射電子顯微鏡通過使用采用電子能量損失光譜學這種先進技術的光譜儀，適當的電子可以根據他們的電壓被分離出來。這些設備允許選擇具有特定能量的電子，由于電子帶有的電荷相同，特定能量也就意味著特定的電壓。這樣，這些特定能量的電子可以與樣品發生特定的影響。例如，樣品中不同的元素可以導致射出樣品的電子能量不
透射電子顯微鏡的電子槍工作原理簡介
在燈絲電源VF作用下，電流IF流過燈絲陰極，使之發熱達2500℃以上時，便可產生自由電子并逸出燈絲表面。加速電壓VA 使陽極表面聚集了密集的正電荷，形成了一個強大的正電場，在這個正電場的作用下自由電子便飛出了電子槍外。調整VF可使燈絲工作在欠飽和點，電鏡使用過程中可根據對亮度的 需要調節柵偏壓V
透射電子顯微鏡電子槍陰極相關簡介
照明系統包括電子槍和聚光鏡2個主要部件，它的功用主要在于向樣品及成像系統提供亮度足夠的光源，電子束流，對它的要求是輸出的電子束波長單一穩定，亮度均勻一致，調整方便，像散小。 陰極 陰極是產生自由電子的源頭，一般有直熱式和旁熱式2種，旁熱式陰極是將加熱體和陰極分離，各自保持獨立。在電鏡中通常由加
透射電子顯微鏡
1、基本原理在光學顯微鏡下無法看清小于0.2μm的細微結構，這些結構稱為亞顯微結構（submicroscopic structures）或超微結構（ultramicroscopic structures；ultrastructures）。要想看清這些結構，就必須選擇波長更短的光源，以提高顯微鏡的分辨
透射電子顯微鏡
1、基本原理 在光學顯微鏡下無法看清小于0.2μm的細微結構，這些結構稱為亞顯微結構（submicroscopic structures）或超微結構（ultramicroscopic structures；ultrastructures）。要想看清這些結構，就必須選擇波長更短的光源，
透射電子顯微鏡
因電子束穿透樣品后，再用電子透鏡成像放大而得名。它的光路與光學顯微鏡相仿，可以直接獲得一個樣本的投影。通過改變物鏡的透鏡系統人們可以直接放大物鏡的焦點的像。由此人們可以獲得電子衍射像。使用這個像可以分析樣本的晶體結構。在這種電子顯微鏡中，圖像細節的對比度是由樣品的原子對電子束的散射形成的。由于電子需
透射電子顯微鏡
透射電子顯微鏡，簡稱透射電鏡，英文名為Transmission Electron Microscope，縮寫為TEM，是一種利用高速運動的電子束作為光源，穿透固體樣品，再經過電磁透鏡成像的顯微鏡。透射電鏡由電子光學系統、觀察記錄系統、真空和冷卻系統以及電源系統等組成。電子光學系統又可分為照明系統和成
簡介透射電子顯微鏡樣品室相關內容
樣品室處在聚光鏡之下，內有載放樣品的樣品臺。樣品臺必須能做水平面上X、Y方向的移動，以選擇、移動觀察視野，相對應地配備了2個操縱桿或者旋轉手輪，這是一個精密的調節機構，每一個操縱桿旋轉10圈時，樣品臺才能沿著某個方向移動3mm左右。現代高檔電鏡可配有由計算機控制的馬達驅動的樣品臺，力求樣品在移動
透射電子顯微鏡機械泵（旋轉泵）簡介
機械泵因在其他場合使用非常廣泛而比較常見，它工作時是靠泵體內的旋轉葉輪刮片將空氣吸入、壓縮、排放到外界的。機械泵的抽氣速度每分鐘僅為160L左右 ，工作能力也只能達到0.1～0.01Pa，遠不能滿足電鏡鏡筒對真空度的要求，所以機械泵只做為真空系統的前級泵來使用。
關于透射電子顯微鏡的真空系統機械泵的簡介
機械泵因在其他場合使用非常廣泛而比較常見，它工作時是靠泵體內的旋轉葉輪刮片將空氣吸入、壓縮、排放到外界的。機械泵的抽氣速度每分鐘僅為160L左右 ，工作能力也只能達到0.1～0.01Pa，遠不能滿足電鏡鏡筒對真空度的要求，所以機械泵只做為真空系統的前級泵來使用。
關于透射電子顯微鏡的真空系統油擴散泵的簡介
擴散泵的工作原理是用電爐將特種擴散泵油加熱至蒸汽狀態，高溫油蒸汽膨漲向上升起，靠油蒸汽吸附電鏡鏡體內的氣體，從噴嘴朝著擴散泵內壁射出，在環繞擴散泵外壁的冷卻水的強制降溫下，油蒸汽冷卻成液體時析出氣體排至泵外，由機械泵抽走氣體，油蒸汽冷卻成液體后靠重力回落到加熱電爐上的油槽里循環使用。擴散泵的抽氣
透射電子顯微鏡的結構
透射電子顯微鏡由以下幾大部分組成：照明系統，成像光學系統；記錄系統；真空系統；電氣系統。成像光學系統，又稱鏡筒，是透射電鏡的主體。（詳見右圖） 照明系統主要由電子槍和聚光鏡組成。電子槍是發射電子的照明光源。聚光鏡是把電子槍發射出來的電子會聚而成的交叉點進一步會聚后照射到樣品上。照明系統的作用就
透射電子顯微鏡的應用
透射電子顯微鏡在材料科學、生物學上應用較多。由于電子易散射或被物體吸收，故穿透力低，樣品的密度、厚度等都會影響到最后的成像質量，必須制備更薄的超薄切片，通常為50～100nm。所以用透射電子顯微鏡觀察時的樣品需要處理得很薄。常用的方法有：超薄切片法、冷凍超薄切片法、冷凍蝕刻法、冷凍斷裂法等。對于液體
透射電子顯微鏡的特點
1、由于樣品制備技術的限制，對大多數生物樣品來說，一般只能達到2nm的分辨率。 2、電鏡圖像的分辨能力不僅取決于電鏡本身的分辨率，而且取決于樣品結構的反差。 3、電鏡所用的光源是電子波，波長在非可見光范圍內無顏色反應，所形成的圖像是黑白圖像，要求圖像必須具有一定的反差。 4、生
透射電子顯微鏡的結構
透射電子顯微鏡（Transmission Electron Microscope，TEM）是目前使用最普遍的一種電鏡，占使用電鏡的80%，其分辨率、放大倍數及各項性能都比其他類型電鏡高。透射電鏡是用電子束照射標本，用電子透鏡收集穿透標本的電子并放大成像，用以顯示物體超微結構的裝置。透射電鏡的分辨