電子能譜儀的構成
一臺電子能譜儀的基本組成由所研究的試樣、一個初級激發源和電子能量分析器組成。它們安裝在超高真空(UHV)下工作。實際上，經常再備有一個UHV室安裝各種試樣制備裝置，和可能的輔助分析裝置。此外還有數據采集與處理系統。 (1)真空系統。電子能譜分析技術本身的表面靈敏度要求必須維持超高真空。現代電子能譜儀采用離子泵獲得超高真空條件。所有超高真空系統都需要時常烘烤，以去除真空室內壁上的吸附層。(2)試樣臺。試樣被固定在試樣臺上。試樣臺要求平穩，工作時無顫動。對AES在常規分析時，試樣應導電和接地。(3)初級激發源。XPS和AES的初級激發源不同。XPS的X射線源。X射線是用高能電子轟擊陽極靶材激發出來的。由燈絲發出的熱電子被加速到一定能量去轟擊陽極靶材，引起其原子內殼層電離。當較外層電子以輻射躍遷的方式填充內殼層空位時，釋放出具有特征能量的X射線。 AES的電子槍。電子槍的關鍵部件是電子源及用于電子束聚焦、整形和掃描......閱讀全文
基于掃描探針電子能譜儀的表面譜學成像研究
電子能譜技術廣泛用于固體表面元素分析、化學環境分析及形貌測量等,在表面物理研究中發揮著重要的作用。近年來,對單個納米粒子的等離激元激發和單個生物大分子的激發能譜等研究均需要具有一定空間分辨能力的表面電子能譜測量(或表面譜學成像)技術。雖然現階段快速發展的掃描透射電子顯微鏡(Scanning Tran
掃描電子顯微鏡及電子能譜儀
掃描電子顯微鏡及電子能譜儀是一種用于材料科學、礦山工程技術、冶金工程技術領域的分析儀器，于2015年5月8日啟用。 技術指標 掃描電鏡設備主要技術參數：1、分辨率：二次電子（SE）像分辨率在高真空時：30kV時優于3.0nm，3kV時優于10.0nm；背散射電子(BSE)像分辨率（VPwit
俄歇電子能譜的原理
向樣品照射電子束后，電子和物質之間產生劇烈的相互作用，如下圖（上)所示，各種電子和電磁波被釋放出來。由于其中俄歇電子具備各個元素特有的能量，所以如對能譜進行解析，可以鑒定物質表面所存在的元素(定性分析)通過峰強度對比則可以定量測定元素(定量分析)。另外，俄歇電子在物質中非彈性散射情況下前進的距離（平
俄歇電子能譜的特點
①俄歇電子的能量是靶物質所特有的，與入射電子束的能量無關。右圖是一些主要的俄歇電子能量。可見對于Z=3-14的元素，最突出的俄歇效應是由KLL躍遷形成的，對Z=14-40的元素是LMM躍遷，對Z=40-79的元素是MNN躍遷。大多數元素和一些化合物的俄歇電子能量可以從手冊中查到。②俄歇電子只能從20
什么是能譜儀？能譜儀的原理簡介
能譜儀(EDS,Energy Dispersive Spectrometer)是用來對材料微區成分元素種類與含量分析，配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。 原理 各種元素具有自己的X射線特征波長，特征波長的大小則取決于能級躍遷過程中釋放出的特征能量△E，能譜儀就是利用不同元素X射線光子
俄歇電子能譜學
俄歇電子能譜學（Auger electron spectroscopy，簡稱AES），是一種表面科學和材料科學的分析技術。因此技術主要借由俄歇效應進行分析而命名之。產生于受激發的原子的外層電子跳至低能階所放出的能量被其他外層電子吸收而使后者逃脫離開原子，這一連串事件稱為俄歇效應，而逃脫出來的電子稱為
俄歇電子能譜（2）
基本原理物理原理入射電子束和物質作用，可以激發出原子的內層電子形成空穴。外層電子填充空穴向內層躍遷過程中所釋放的能量，可能以X光的形式放出，即產生特征X射線，也可能又使核外另一電子激發成為自由電子，這種自由電子就是俄歇電子。俄歇電子和X射線產額入射電子束和物質作用，可以激發出原子的內層電子。外層電子
俄歇電子能譜（1）
俄歇電子能譜（Auger electron spectroscopy，簡稱AES），是一種表面科學和材料科學的分析技術。因此技術主要借由俄歇效應進行分析而命名之。這種效應系產生于受激發的原子的外層電子跳至低能階所放出的能量被其他外層電子吸收而使后者逃脫離開原子，這一連串事件稱為俄歇效應，而逃脫出
俄歇電子能譜（3）
俄歇躍遷對于自由原子來說,圍繞原子核運轉的電子處于一些不連續的"軌道 ”上,這些 “ 軌道 ” 又組成K、L、M、N 等電子殼層。 我們用“ 能級 ”的概念來代表某一軌道上電子能量的大小。由于入射電子的激發，內層 電子被 電離， 留下一個空穴。 此時原子處于激發態， 不穩定。 較高能級上的一
X射線光電子能譜儀的發現
1895年11月8日晚，德國維爾茨堡大學校長兼物理研究所所長倫琴在實驗室研究陰極射線。 為了防止外界光線對放電管的影響，也為了不使管內可見光漏出管外，他把房間全部弄黑，創造伸手不見五指的環境，他還用黑色硬紙給放電管做了個封套。為了檢查封套是否漏光，他給放電管接上電源，發現沒有漏光。但他切斷電源
X射線光電子能譜儀的介紹
X-射線光電子能譜儀，是一種表面分析技術，主要用來表征材料表面元素及其化學狀態。其基本原理是使用X-射線，如Al Ka =1486.6eV，與樣品表面相互作用，利用光電效應，激發樣品表面發射光電子，利用能量分析器，測量光電子動能(K.E)，根據B.E=hv-K.E-W.F，進而得到激發電子的結合能（
簡介俄歇電子能譜儀的樣品安置系統
一般包括樣品導入系統，樣品臺，加熱或冷卻附屬裝置等。為了減少更換樣品所需的時間及保持樣品室內高真空，俄歇譜儀采用旋轉式樣品臺，能同時裝6-12個樣品，根據需要將待分析樣品送至檢測位置。 俄歇能譜儀的樣品要求能經得住真空環境，在電子束照射下不產生嚴重分解。有機物質和易揮發物質不能進行俄歇分析，粉
X射線光電子能譜儀的介紹
X-射線光電子能譜儀，是一種表面分析技術，主要用來表征材料表面元素及其化學狀態。其基本原理是使用X-射線，如Al Ka =1486.6eV，與樣品表面相互作用，利用光電效應，激發樣品表面發射光電子，利用能量分析器，測量光電子動能(K.E)，根據B.E=hv-K.E-W.F，進而得到激發電子的結合能（
X射線光電子能譜儀的簡介
X-射線光電子能譜儀，是一種表面分析技術，主要用來表征材料表面元素及其化學狀態。其基本原理是使用X-射線，如Al Ka =1486.6eV，與樣品表面相互作用，利用光電效應，激發樣品表面發射光電子，利用能量分析器，測量光電子動能(K.E)，根據B.E=hv-K.E-W.F，進而得到激發電子的結合
X射線光電子能譜儀的簡介
X-射線光電子能譜儀，是一種表面分析技術，主要用來表征材料表面元素及其化學狀態。其基本原理是使用X-射線，如Al Ka =1486.6eV，與樣品表面相互作用，利用光電效應，激發樣品表面發射光電子，利用能量分析器，測量光電子動能(K.E)，根據B.E=hv-K.E-W.F，進而得到激發電子的結合能（
掃描探針電子能譜儀控制系統的研制
報道了自行搭建的掃描探針電子能譜儀(SPEES)控制系統的硬件及軟件實現。該系統包括探針三維掃描控制、譜儀通過能電壓掃描控制及樣品電流反饋控制,在針尖控制上能夠實現x、yz、三個方向上的定位以及恒高模式與恒流模式的掃描,在電子能譜測量上能夠實現能量定點模式和能量掃描模式。對石墨表面Ag島及石墨表面A
對俄歇電子能譜儀的定性分析
通過正確測定和解釋AES的特征能量、強度、峰位移、譜線形狀和寬度等信息，能直接或間接地獲得固體表面的組成、濃度、化學狀態等多種情報。 定性分析 定性分析主要是利用俄歇電子的特征能量值來確定固體表面的元素組成。能量的確定在積分譜中是指扣除背底后譜峰的最大值，在微分譜中通常規定負峰對應的能量值。
X射線光電子能譜儀的介紹
X-射線光電子能譜儀，是一種表面分析技術，主要用來表征材料表面元素及其化學狀態。其基本原理是使用X-射線，如Al Ka =1486.6eV，與樣品表面相互作用，利用光電效應，激發樣品表面發射光電子，利用能量分析器，測量光電子動能(K.E)，根據B.E=hv-K.E-W.F，進而得到激發電子的結合能（
紫外光電子能譜儀的簡介
中文名稱紫外光電子能譜儀英文名稱ultraviolet photoelectron spectrometer定 義用紫外光激發試樣光電子的能譜儀。適用于表面狀態分析，能獲得能帶結構，振蕩能級信息。應用學科機械工程（一級學科），分析儀器（二級學科），能譜和射線分析儀器-能譜和射線分析儀器儀器和附件（
俄歇電子能譜儀測量的實際應用例子
摩擦、磨損與潤滑 由 高鉻鋼制成的葉片泵的定子，在水 乙氨酸系潤滑油中長時間工作后，在摩擦面上會產生局部變色區。先用大直徑的電子束斑進行俄歇分析，發現摩擦面上存在氧、鐵、錫、鈣、碳、鉀、氯和硫等元素。然后用細聚焦電子束作微區分析。結果表明，定子摩擦面的局部變色區是由于錫的偏聚所造成的。 在潤
俄歇電子能譜儀的基本原理
俄歇電子能譜儀的基本原理是,在高能電子束與固體樣品相互作用時,原子內殼層電子因電離激發而留下一個空位,較外層電子會向這一能級躍遷,原子在釋放能量過程中,可以發射一個具有特征能量的 X 射線光子,也可以將這部分能量傳遞給另一個外層電子,引起進一步電離 ,從而發射一個具有特征能量的俄歇電子。檢測俄歇
俄歇電子能譜儀的電子光學系統簡介
電子光學系統主要由電子激發源（熱陰極電子槍）、電子束聚焦（ 電磁透鏡）和偏轉系統（偏轉線圈）組成。電子光學系統的主要指標是入射電子束能量，束流強度和束直徑三個指標。其中AES分析的最小區域基本上取決于入射電子束的最小束斑直徑；探測靈敏度取決于束流強度。這兩個指標通常有些矛盾，因為束徑 變小將使束
現代X光電子能譜儀簡介
介紹了現代 X 光電子能譜儀的激發源、能量分析器、傳輸透鏡、電子檢測器、荷電中和器等主要部件的結構特點。在此基礎上介紹了儀器的主要性能指標靈敏度、能量分辨率等,簡單介紹了考察一臺能譜儀的方法。最后討論了電子能譜儀發展。?
X射線光電子能譜儀原理
X射線光子的能量在1000～1500ev之間，不僅可使分子的價電子電離而且也可以把內層電子激發出來，內層電子的能級受分子環境的影響很小。 同一原子的內層電子結合能在不同分子中相差很小，故它是特征的。光子入射到固體表面激發出光電子，利用能量分析器對光電子進行分析的實驗技術稱為光電子能譜。?XPS的原理
掃描電子顯微鏡能譜儀
掃描電子顯微鏡-能譜儀是一種用于物理學、化學、生物學、冶金工程技術領域的分析儀器，于2009年8月31日啟用。 技術指標 二次電子像分辨率：1.0nm(15kv)；1.4nm(1kv,減速模式)；2.0nm (1kV)普通模式；加速電壓：0.5 ~ 30kV；放大倍率：×20 ~ ×800,
能譜儀
能譜儀(EDS,Energy Dispersive Spectrometer)是用來對材料微區成分元素種類與含量分析，配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。
能譜儀
原理編輯各種元素具有自己的X射線特征波長，特征波長的大小則取決于能級躍遷過程中釋放出的特征能量△E，能譜儀就是利用不同元素X射線光子特征能量不同這一?[1]??特點來進行成分分析的。性能指標編輯固體角：決定了信號量的大小，該角度越大越好檢出角：理論上該角度越大越好探頭：新型硅漂移探測器（SDD）逐步
俄歇電子能譜儀的研制和Ar的快電子碰撞研究
本論文介紹了作者在攻讀碩士學位期間的研究工作,主要包括:俄歇電子能譜儀的設計和研制情況;用電子能量損失譜方法對氬原子的內殼層2p激發進行研究,結合Cowan code的計算,得到了各個躍遷的能級和自然寬度。在第一章中,主要介紹了俄歇電子能譜儀的建立目的。首先介紹了俄歇過程的基礎知識,包括俄歇效應的概
俄歇電子能譜儀的研制和Ar的快電子碰撞研究
本論文介紹了作者在攻讀碩士學位期間的研究工作,主要包括:俄歇電子能譜儀的設計和研制情況;用電子能量損失譜方法對氬原子的內殼層2p激發進行研究,結合Cowan code的計算,得到了各個躍遷的能級和自然寬度。在第一章中,主要介紹了俄歇電子能譜儀的建立目的。首先介紹了俄歇過程的基礎知識,包括俄歇效應的概
俄歇電子能譜儀樣品的尺寸的相關介紹
俄歇電子能譜儀對分析樣品有特定的要求,在通常情況下只能分析固體導電樣品。經過特殊處理,絕緣體固體也可以進行分析。粉體樣品原則上不能進行俄歇電子能譜分析,但經特殊制樣處理也可以進行分析。由于涉及到樣品在真空中的傳遞和放置,所以待分析樣品一般都需要經過一定的預處理。 樣品的尺寸 在實驗過程中,樣