X射線熒光光譜分析儀檢測的相關介紹
X射線熒光光譜分析儀檢測過程制樣簡單無需復雜的化學預處理方式，是最基本的制樣方法，檢測方法快速簡便,經濟且不會造成其他污染，儀器檢測的優勢得到了充分的發揮和展現，除了礦石檢測，XRF在在土壤和環境樣品分析中的應用也愈發重要，還應用于鋼鐵、冶金、水泥、商檢等各個領域，而且還在向更細化的研究領域逐步發展。 X射線熒光光譜可以對塊狀、粉末類固體樣品進行檢測，擁有高精度、高靈敏度、無損、多元素同時測定、測試含量范圍廣、準確性和快速自動化分析等優點，實驗室可提供X射線熒光光譜的樣品全元素分析。遵照ISO17025和GMP進行管理，為企業和科研機構生產研究過程中可能產生的雜質提供成分分析、元素檢測、以及方法開發驗證等系列解決方法。......閱讀全文
X射線熒光光譜分析儀檢測的相關介紹
X射線熒光光譜分析儀檢測過程制樣簡單無需復雜的化學預處理方式，是最基本的制樣方法，檢測方法快速簡便,經濟且不會造成其他污染，儀器檢測的優勢得到了充分的發揮和展現，除了礦石檢測，XRF在在土壤和環境樣品分析中的應用也愈發重要，還應用于鋼鐵、冶金、水泥、商檢等各個領域，而且還在向更細化的研究領域逐步
X射線熒光光譜儀熒光光譜的相關介紹
能量色散X射線熒光光譜采用脈沖高度分析器將不同能量的脈沖分開并測量。能量色散X射線熒光光譜儀可分為具有高分辨率的光譜儀，分辨率較低的便攜式光譜儀，和介于兩者之間的臺式光譜儀。高分辨率光譜儀通常采用液氮冷卻的 半導體探測器，如Si(Li)和高純鍺探測器等。低分辨便攜式光譜儀常常采用正比計數器或閃爍
X射線熒光光譜儀相關知識介紹
X射線熒光光譜儀是一種常用的光譜儀產品，可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。X射線熒光光譜儀具有靈明度強、度高、檢測范圍廣、自動快速等特點，廣泛應用于地質、冶金、有色金屬加工、建材、考古等領域，在主、次量和痕量元素分析中發揮的作用日趨重要
實驗室X射線熒光光譜的相關介紹
X射線熒光光譜分析儀（XFR）是一種精密分析儀器，在20世紀80年代初就已經是一種成熟的分析方法，但儀器價格昂貴。作為一種重要的多元素分析手段，儀器工作分析原理是用X射線照射試樣時，試樣可以被激發出各種波長的熒光X射線，需要把混合的X射線按波長（或能量）分開，分別測量不同波長（或能量）的X射線強
X射線熒光光譜儀分類的相關介紹
按照色散方式的不同，X射線熒光光譜儀可以分為2類：波長色散型X射線熒光光譜儀（WDXRF）和能量色散型X射線熒光光譜儀（EDXRF）。 能量色散型x射線光譜儀 現代應用X射線熒光光譜分析技術目前已在地質、冶金、材料、環境等無機分析領域得到了廣泛的應用，是各種無機材料中主組分分析最重要的技術手
X射線熒光分析的相關介紹
確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法。它用外界輻射激發待分析樣品中的原子，使原子發出標識X射線（熒光），通過測量這些標識X射線的能量和強度來確定物質中微量元素的種類和含量。根據激發源的不同，可分成帶電粒子激發X熒光分析，電磁輻射激發X熒光分析和電子激發X熒光分析。
X射線熒光儀的相關介紹
X射線熒光儀一般是采用，激發樣品中的目標元素，使之產生特征X射線，通過測量特征X射線的照射量率來確定目標元素及其含量的儀器。 儀器分為室內分析、野外便攜式和X射線熒光測井儀三種類型。各種類型的儀器均由探測器和操作臺兩部分組成。由于目前使用的探測器（正比計數管及閃爍計數器）能量分辨率不高，不能區
X射線熒光光譜儀X射線吸收的介紹
當X射線穿過物質時，一方面受散射作用偏離原來的傳播方向，另一方面還會經受光電吸收。光電吸收效應會產生X射線熒光和俄歇吸收，散射則包含了彈性和非彈性散射作用過程。 當一單色X射線穿過均勻物體時，其初始強度將由I0衰減至出射強度Ix，X射線的衰減符合指數衰減定律： 式中，μ為質量衰減系數；ρ為樣
X射線熒光光譜儀X射線的衍射介紹
相干散射與干涉現象相互作用的結果可產生X射線的衍射。X射線衍射與晶格排列密切相關，可用于研究物質的結構。 其中一種用已知波長λ的X射線來照射晶體樣品，測量衍射線的角度與強度，從而推斷樣品的結構，這就是X射線衍射結構分析（XRD）。 另一種是讓樣品中發射出來的特征X射線照射晶面間距d已知的晶體
X射線熒光光譜儀X射線散射的介紹
除光電吸收外，入射光子還可與原子碰撞，在各個方向上發生散射。散射作用分為兩種，即相干散射和非相干散射。 相干散射：當X射線照射到樣品上時，X射線便與樣品中的原子相互作用，帶電的電子和原子核就跟隨著X射線電磁波的周期變化的電磁場而振動。因原子核的質量比電子大得多，原子核的振動可忽略不計，主要是原
波長色散X射線熒光光譜儀相關介紹
X射線熒光光譜儀根據分光方式不同，可分為波長色散和能量色散X射線熒光光譜儀兩大類；根據激發方式又可細分為偏振光、同位素源、同步輻射和粒子激發X射線熒光光譜儀；根據X射線的出射、入角還可有全反射、掠出入射X射線熒光光譜儀等。波長色散XRF光譜儀利用分光晶體的衍射來分離樣品中的多色輻射，能量色散光譜儀則
X射線熒光分析技術相關介紹
X光熒光分析又稱X射線熒光分析(XRF)技術，即是利用初級X射線光子或其他微觀粒子激發待測樣品中的原子，使之產生熒光(次級X射線)而進行物質成分分析和化學形態研究的方法。 X射線是一種電磁輻射，按傳統的說法，其波長介于紫外線和γ射線之間，但隨著高能電子加速器的發展，電子軔致輻射所產生的X射線的
關于X射線熒光光譜的介紹
X射線熒光光譜(XRF, X Ray Fluorescence)是通常把X射線照射在物質上而產生的次級X射線叫X射線熒光(X-Ray Fluorescence)，受激發的樣品中的每一種元素會放射出X射線熒光，并且不同的元素所放射出的X射線熒光具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來
X射線熒光光譜儀相關特點
?X射線熒光光譜儀具有重現性好，測量速度快，靈敏度高的特點。能分析B(5)~U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。無標半定量方法可以對各種形狀樣品定性分析，并能給出半定量結果，結果準確度對某些樣品可以接近定量水平
X射線熒光分析儀的介紹
X射線熒光分析儀主要由激發、色散（波長和能量色散）、探測、記錄和測量以及數據處理等部分組成。X射線光譜儀與X射線能譜儀兩類分析儀器有其相似之處，但在色散和探測方法上卻完全不同。在激發源和測量裝置的要求上，兩類儀器也有顯著的區別。X射線熒光分析儀按其性能和應用范圍，可分為實驗室用的X射線熒光光譜儀
X射線熒光分析技術的相關介紹
X射線熒光分析是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法。 X射線熒光分析又稱X射線次級發射光譜分析。本法系利用原級X射線光子或其它微觀粒子激發待測物質中的原子，使之產生次級的特征X射線（X光熒光）而進行物質成分分析和化學態研究的方法。1948年由H.費里德曼（H.Friedmann）和L.S
X射線熒光法的相關介紹
X射線熒光法是用，照射待測樣品，使受激元素產生二次特征X射線（即熒光），使用X射線熒光儀測量并記錄樣品中待測元素的特征X射線照射量率，從而確定樣品的成分和目標元素含量的方法。 方法的特點是操作簡單，速度快，可以進行原位測量，在現場獲得目標元素的含量；劃分礦與非礦的界限，代替或部分代替刻槽取樣。
X射線熒光的產生相關介紹
當一束粒子如X射線光子與一種物質的原子相互作用時，在其能量大于原子某一軌道電子的結合能時，就可從中逐出一個軌道電子而出現一個“空穴”，層中的這個“空穴”可稱作空位。原子要恢復到原來的穩定狀態，這時處于較高能級的電子將依據一定的規則躍遷而填補該“空穴”，這一過程將使整個原子的能量降低，因此可以自發
全反射X射線熒光光譜儀技術相關介紹
全反射現象由Compton于1923年發現，1971年Yoneda等首次提出利用全反射現象來激發被測元素的特征譜線。這是一種超衡量檢測XRF技術。 XRF于1981年在德國問世,實質上是EDXRF的拓展,與常規EDXRF所具有的關鍵區別就在于其反射系統：TXRF通常有一級、二級或三級反射系
X射線熒光光譜分析儀的優點介紹
a) 分析速度高。測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。b) X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態無關，而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態也基本上沒有關系。（氣體密封在容器內也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現象。特別是在
X射線熒光光譜分析儀的缺點介紹
a）難于作絕對分析，故定量分析需要標樣。b）對輕元素的靈敏度要低一些。c）容易受相互元素干擾和疊加峰影響。
TXRF全反射X射線熒光光譜儀的相關介紹
TXRF全反射X射線熒光光譜儀快速多元素痕量分析可對固體、粉末、液體、懸浮物、過濾物、大氣飄塵、薄膜樣品等進行定性、定量分析，元素范圍13Al-92U。 需要樣品量少，液體及懸浮物樣品1-50微升，粉末樣品10微克以內。 便攜式全反射熒光儀，設備小巧，一體化結構設計，不需要任何輔助設備及氣體
X射線熒光光譜儀檢測礦石的介紹
礦石檢測是選礦企業選礦和生產的利器，沒有快速準確的數據支持，難以達到高效的生產。隨著科學技術的進步，現代分析儀器功能十分強大，在效率、環保、職業健康方面優勢巨大，因此用途也相當廣泛，已逐步取代傳統化學分析。X-射線熒光光譜儀(XRF)就是其中的一種定量分析儀器。
X射線熒光光譜儀－檢測標準
JJG810-1993《波長色散X射線熒光光譜儀》檢定周期為1年。
X射線熒光的簡介和相關儀器介紹
通常把X射線照射在物質上而產生的次級X射線叫做X射線熒光(X-Ray Fluorescence)，而把用來照射的X射線稱為原級X射線，所以X射線熒光光譜儀仍然屬于X射線范疇。一臺典型的X射線熒光光譜儀主要由激發源(X射線管)和探測系統構成。X射線管主要負責產生入射X射線(一次X射線)，隨后該射線
X－射線熒光儀檢測晶體的介紹
分光晶體是具有把 X 射線熒光按波長順序分開成光譜作用的晶體。 晶體應該具備的條件：衍射強度大；應該適用于所測量的分析線；分辨率高；峰背比高；不產生附加發射和異常反射；熱膨脹系數小、溫度效應低；經受 X 射線長期照射，穩定性好；機械強度良好；容易加工等等。
x射線衍射、x熒光、直讀光譜區別
1、X射線衍射儀是利用衍射原理,精確測定物質的晶體結構,織構及應力,精確的進行物相分析,定性分析,定量分析.廣泛應用于冶金,石油,化工,科研,航空航天,教學,材料生產等領域. X射線衍射儀是利用X射線衍射原理研究物質內部微觀結構的一種大型分析儀器,廣泛應用于各大、專院校,科研院所及廠礦企業. 基
現代X射線熒光光譜分析儀的組成介紹
現代X射線熒光光譜分析儀由以下幾部分組成：X射線發生器（X射線管、高壓電源及穩定穩流裝置）、分光檢測系統（分析晶體、準直器與檢測器）、記數記錄系統（脈沖輻射分析器、定標計、計時器、積分器、記錄器）。不同元素具有波長不同的特征X射線譜，而各譜線的熒光強度又與元素的濃度呈一定關系，測定待測元素特征X
X射線熒光光譜分析儀（XFR）的基本介紹
X射線熒光光譜分析儀（XFR）是一種精密分析儀器，在20世紀80年代初就已經是一種成熟的分析方法，但儀器價格昂貴。作為一種重要的多元素分析手段，儀器工作分析原理是用X射線照射試樣時，試樣可以被激發出各種波長的熒光X射線，需要把混合的X射線按波長（或能量）分開，分別測量不同波長（或能量）的X射線強
X射線熒光光譜的概念
X射線熒光光譜(XRF)：X射線熒光光譜按 分 離 特 征 譜 線 的 方 法 分 為 波 長 色 散 型（WD－XRF）和 能 量 色 散 型（ED－XRF）兩種。WD－XRF與ED－XRF的區別在于前者是用分光晶體將熒光光束進行色散，而后者則是借助高分辨率敏感半導體檢測器與多道分析器將所得信號按