X射線投射檢測技術的介紹
X射線檢測技術是無損檢測技術的一種。 X射線透射檢查法可提供鑄件檢測部位有無缺陷及缺陷尺寸的照片。X射線透照法主要應用在鑄件和機器部件中出現的諸如裂紋、孔洞和夾雜等缺陷的辨識和評價。 X射線不能直接測量，在測量前必須把它轉化為可測量的量，有照相法和電信號法兩種X射線檢測技術。照相法是把X射線的方位和強度轉換成照片面積上相應位置的黑度，然后進行直接測量，或輔以測微光度等儀器對低頻進行測量。這種方法是最早使用的檢測、記錄X射線的方法，現在還是一種常用的基本手段。電信號法也是通過適當的檢測器或技術，把X射線轉換成電信號，然后通過一套電子學系統進行自動測量記錄。這類檢測技術包括兩個方面：檢測器(或技術)及與之配套使用的電子學訊號分析、測量記錄系統。 閃爍計數器：是利用X射線激發某些固體物質，發射可見熒光并通過光電倍增管放大的計數器。閃爍計數管基本上由三部分組成：閃爍體、光電倍增管和前置放大器。四圓單晶衍射儀和多晶衍射儀都用這樣......閱讀全文
X射線投射檢測技術的介紹
X射線檢測技術是無損檢測技術的一種。 X射線透射檢查法可提供鑄件檢測部位有無缺陷及缺陷尺寸的照片。X射線透照法主要應用在鑄件和機器部件中出現的諸如裂紋、孔洞和夾雜等缺陷的辨識和評價。 X射線不能直接測量，在測量前必須把它轉化為可測量的量，有照相法和電信號法兩種X射線檢測技術。照相法是把X射線
X射線投射檢測技術的原理
在X-Ray檢測的過程中， X-Ray穿過待檢樣品，然后在圖像探測器(現在大多使用X-Ray圖像增強器)上形成一個放大的X光圖。該圖像的質量主要由分辨率及對比度決定。 成像系統的分辨率(清晰度) 決定于X射線源焦斑的大小、X光路的幾何放大率和探測器像素大小。微焦點X光管的焦斑可小到幾個微米。X
X射線投射檢測技術的檢測方法
X射線檢測的方法很多，以下簡要介紹三種： X射線小角散射 當X射線照射到試樣上時，如果試樣內部存在納米尺寸的密度不均勻區，則會在入射束周圍的小角度區域內出現散射X射線，這種現象稱為X射線小角散射或小角X射線散射。根據電磁波散射的反比定律，相對于波長來說，散射體的有效尺寸越大則散射角越小。因此
X射線投射檢測技術的原理及檢測方法
原理 在X-Ray檢測的過程中， X-Ray穿過待檢樣品，然后在圖像探測器(現在大多使用X-Ray圖像增強器)上形成一個放大的X光圖。該圖像的質量主要由分辨率及對比度決定。 成像系統的分辨率(清晰度) 決定于X射線源焦斑的大小、X光路的幾何放大率和探測器像素大小。微焦點X光管的焦斑可小到幾個
X射線熒光分析技術介紹
X射線熒光分析技術(XRF)作為常規、快速的分析手段，開始于20世紀50年代初，經歷了50多年的不斷發展，現在已成為物質組成分析的必備方法之一。 在我國的相關生產企業的檢測、篩選和控制有害元素含量中，X射線熒光分析技術的應用氣相液相色譜儀提供了一種可行的、低成本的、并且是及時的有效途徑；與其
x射線測厚儀的X射線發射源及接收檢測頭介紹
采用X射線管和高壓電源。X射線管裝在一個抽真空后注滿油的全密封的油箱中保證絕緣和良好冷卻，高壓等級根據所造型號不同有所區別，加上傳感器具有的溫度自動保護與報警功能，提高了X射線管的穩定性和使用壽命。模塊化設計、免維護設計方案及規范的制造保證了設備系統高可靠性。 檢測頭采用電離室和電子前置放大器
X射線熒光分析技術相關介紹
X光熒光分析又稱X射線熒光分析(XRF)技術，即是利用初級X射線光子或其他微觀粒子激發待測樣品中的原子，使之產生熒光(次級X射線)而進行物質成分分析和化學形態研究的方法。 X射線是一種電磁輻射，按傳統的說法，其波長介于紫外線和γ射線之間，但隨著高能電子加速器的發展，電子軔致輻射所產生的X射線的
X射線顯微分析技術介紹
中文名稱X射線顯微分析英文名稱X-ray microanalysis定 義應用X射線顯微分析器探測細胞或組織的微小區域內元素成分的技術。應用學科細胞生物學（一級學科），細胞生物學技術（二級學科）
X射線熒光儀器的技術優點介紹
利用XRF，元素周期表中絕大部分元素均可測量。作為一種分析手段，XRF具有其優越的地方：分析速度快、非破壞分析、分析精密度高、制樣簡單等。波長色散和能量色散XRF光譜儀對元素的檢測范圍為10-5%~100%，對水樣的分析可達10-9數量級；全反射XRF的檢測限已達到10-9~10-12g。同時也
X射線熒光分析技術的相關介紹
X射線熒光分析是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法。 X射線熒光分析又稱X射線次級發射光譜分析。本法系利用原級X射線光子或其它微觀粒子激發待測物質中的原子，使之產生次級的特征X射線（X光熒光）而進行物質成分分析和化學態研究的方法。1948年由H.費里德曼（H.Friedmann）和L.S
X射線熒光分析技術的特點介紹
1.分析速度快，通常每個元素分析測量時間在2～lOOs之內即可完成。 2.非破壞性，X射線熒光分析對樣品是非破壞性測定，使得其在一些特殊測試如考古、文物等貴重物品的測試中獨顯優勢 3.分析樣品范圍廣，可以對元素周期表上的多種元素進行分析，并可直接測試各種形態的樣品。 4.分析樣品濃度范圍寬
X射線熒光分析技術的應用介紹
隨著儀器技術和理論方法的發展，X射線熒光分析法的應用范同越來越廣。在物質的成分分析上，在冶金、地質、化工、機械、石油、建筑材料等工業部門，農業和醫藥衛生，以及物理、化學、生物、地學、環境、天文及考古等研究部門都得到了廣泛的應用：有效地用于測定薄膜的厚度和組成．如冶金鍍層或金屬薄片的厚度，金屬腐蝕
X－射線衍射技術的主要應用介紹
X 射線衍射技術已經成為最基本、最重要的一種結構測試手段，其主要應用主要有以下幾個方面：物相分析物相分析是X射線衍射在金屬中用得最多的方面，分定性分析和定量分析。前者把對材料測得的點陣平面間距及衍射強度與標準物相的衍射數據相比較，確定材料中存在的物相；后者則根據衍射花樣的強度，確定材料中各相的含量。
有關X射線食物異物檢測的介紹
由于X射線的物理特性，當用X射線照射要檢查的產品時，該物質的密度和原子序數越大，該物質對X射線的吸收率就越大，并且該物質的吸收率也越高。食物（鈣）和玻璃（二氧化硅），金屬，頭發和其他成分中的蛋白質，碳水化合物，脂肪，水分和骨骼對X射線的吸收率不同，因此將呈現具有不同灰度的X射線照片。然后，X射線
X－射線熒光儀檢測晶體的介紹
分光晶體是具有把 X 射線熒光按波長順序分開成光譜作用的晶體。 晶體應該具備的條件：衍射強度大；應該適用于所測量的分析線；分辨率高；峰背比高；不產生附加發射和異常反射；熱膨脹系數小、溫度效應低；經受 X 射線長期照射，穩定性好；機械強度良好；容易加工等等。
X射線的介紹
X射線（X-ray，倫琴射線）是由于原子中的電子在能量相差懸殊的兩個能級之間的躍遷而產生的粒子流，是一種電磁波，由德國物理學家W.K.倫琴于1895年發現[1]。 X射線具有很高的穿透性，被用于醫學成像診斷。2017年10月27日，世界衛生組織國際癌癥研究機構將X射線放置在致癌物清單中。
X射線檢測原理
X射線檢測是利用X射線技術觀察、研究和檢驗材料微觀結構、化學組成、表面或內部結構缺陷的實驗技術。如X射線粉末衍射術、X射線熒光譜法、X射線照相術、X射線形貌術等。(1)x射線的特性 X射線是一種波長很短的電磁波，是一種光子，波長為10~10cm x射線有下列特點： ①穿透性 x射線能穿透一般可見
X射線與γ射線的相關介紹
X射線是帶電粒子與物質交互作用產生的高能光量子。 X射線與γ射線有許多類似的特性，但它們起源不同。 X射線由原子外部引起，而γ射線由原子內部引起。X射線比γ射線能量低，因此穿透力小于γ射線。成千上萬臺X射線機在日常中被運用于醫學和工業上。X射線也被用于癌癥治療中破壞癌變細胞，由于它的廣泛運用
x射線探傷儀的檢測原理介紹
對工件進行透照、拍片，X射線通過膠片顯示出加工成的零件和焊接的內部缺陷，以此評定制品的質量。 可檢測出焊縫和零件的裂紋、發紋、白點、折疊、夾雜物等缺陷，具有很高的檢測靈敏度，且能直觀的顯示出缺陷的位置、形狀、大小和嚴重程度。 探傷機應用領域： 無損檢測公司、壓力容器制造廠、造船廠、航空航天、石油
X射線光譜技術(XRF)
X射線光譜技術因其是一種環保型、非破壞性、分析精度高的分析技術[33], 特別是在貴金屬產品、飾品無損檢測方面有其獨特的優勢。用XRFA互標法無損檢測黃金飾品,對金飾品[w(Au)>96%]的測定絕對誤差
X射線衍射技術簡介
物質結構的分析盡管可以采用中子衍射、電子衍射、紅外光譜、穆斯堡爾譜等方法，但是X射線衍射是最有效的、應用最廣泛的手段，而且X射線衍射是人類用來研究物質微觀結構的第一種方法。X射線衍射的應用范圍非常廣泛，現已滲透到物理、化學、地球科學、材料科學以及各種工程技術科學中，成為一種重要的實驗方法和結構分析手
X射線的原理介紹
產生X射線的最簡單方法是用加速后的電子撞擊金屬靶。撞擊過程中，電子突然減速，其損失的動能會以光子形式放出，形成X光光譜的連續部分，稱之為軔致輻射。通過加大加速電壓，電子攜帶的能量增大，則有可能將金屬原子的內層電子撞出。于是內層形成空穴，外層電子躍遷回內層填補空穴，同時放出波長在0.1nm左右的光
X射線的特點介紹
X射線與可見光相比，除了具有波粒二象性的共同性質之外，還因其波長短、能量大而顯示其特性： 1、穿透能力強； 2、折射率幾乎等于1； 3、透過晶體時發生衍射。
食品的X射線檢測方法
X射線不僅可以出色地檢測產品中的金屬，玻璃，石頭，骨頭以及高密度塑料等物理污染物，還可同時進行多項在線質量檢測，如計件、識別缺失或破損、監測罐裝量、檢測密封完整性等。越來越多的食品生產商選擇使用X射線檢測系統來確保產品的安全性和質量。X射線波長可使其穿透在可見光下不透明的材料(取決于產品的密度)，這
EagleX射線檢測
Eagle 提供的世界級 x 射線檢測系統適用于食品和制藥行業內帶包裝、無包裝和散裝產品的各種質量檢測。我們的 x 射線設備可以確保制造商符合危險分析和關鍵控制點 (HACCP) 準則的要求。通過針對客戶具體產品檢測/應用要求量身定制的自定義解決方案，我們的 x 射線系統可提供避免產品召回和客戶投訴
管道X射線檢測系統
管道應用梅特勒-托利多管道X射線檢測解決方案專用于檢測最終加工和包裝之前任何階段的泵送產品（通常為肉類和禽類），如漿狀物、半固體和流體。 應用范圍通常包括：醬料、果醬、肉餡、全瘦肉、巧克力與奶油以及無法篩處理的產品，例如：有紋理的果糊與大果粒酸奶。出色的產品安全性管道X射線檢測通過在生產早期階段對玻
常用的X－射線熒光儀檢測晶體的介紹
常用晶體有 LiF、PET（用于檢測 Si、Al）、Ge（用于檢測P）、NaCl 、TAP （用于檢測 Mg 、Na 、F），其中 TAP、PET、NaCl 等都是耐潮能力差的晶體，容易損壞，特別是 NaCl 容易潮解。TAP、PET的使用壽命一般為 5~6 年，因為太硬，容易出現裂紋，一般不
小角X射線散射技術測定離聚體的介紹
離聚體是指共聚物中含有少量離子的聚合物。由于高分子鏈存在著離子化的側基，可形成離子聚合體，從而使此類聚合物具有獨特的結構和性能。小角X射線散射技術還可用于嵌段共聚物、膠體高分子溶液以及生物大分子等研究領域，用來測量分子量、粒子旋轉半徑以及形變和取向等。
小角X射線散射技術測定納米顆粒的介紹
小角X射線散射技術被廣泛用來測定納米粉末的粒度分布，其粒度分析結果所反映的既非晶粒亦非團粒，而是一次顆粒的尺寸。在測定中參與散射的顆粒數一般高達數億個，因此，在統計上有充分的代表性。 通過對Guinier曲線低角區域線性部分的擬合，得到試樣中氧化鋁顆粒的旋轉半徑約為6nm，表明在無機納米雜化薄
X射線熒光光譜儀X射線吸收的介紹
當X射線穿過物質時，一方面受散射作用偏離原來的傳播方向，另一方面還會經受光電吸收。光電吸收效應會產生X射線熒光和俄歇吸收，散射則包含了彈性和非彈性散射作用過程。 當一單色X射線穿過均勻物體時，其初始強度將由I0衰減至出射強度Ix，X射線的衰減符合指數衰減定律： 式中，μ為質量衰減系數；ρ為樣