常用的X射線熒光儀檢測晶體的介紹
常用晶體有 LiF、PET（用于檢測 Si、Al）、Ge（用于檢測P）、NaCl 、TAP （用于檢測 Mg 、Na 、F），其中 TAP、PET、NaCl 等都是耐潮能力差的晶體，容易損壞，特別是 NaCl 容易潮解。TAP、PET的使用壽命一般為 5~6 年，因為太硬，容易出現裂紋，一般不影響使用，但翹起來的時候就需要修復了。這些晶體的表面經再次磨制后一般都能恢復原狀。另外，強酸或強堿的化學腐蝕對 TAP 的損害很大，使用時一定要注意。晶體是儀器內最脆弱的部件，盡量不要用手接觸衍射面，如果手或其他東西碰到了晶體的衍射面，手上的汗或其他物質滲到晶體的表面，使晶體表面的晶格間距發生變化，這樣就會污染晶體，而 X 射線熒光的衍射主要發生在晶體的表面，因此會造成 2θ 掃描的峰形不光滑。這種故障一時很難消除。......閱讀全文
X射線單晶體衍射儀的反常散射法介紹
晶體衍射中有一條弗里德耳定律，就是說不論晶體中是否存在對稱中心，在晶體衍射中總存在著對稱中心，也即有FHKL=FHKL。但是當使用的X射線波長與待測樣品中某一元素的吸收邊靠近時，就不遵從上述定律，也即FHKL≠FHKL。這是由電子的反常散射造成的，利用這一現象可以解決待測物的相角問題。一般，這一
X射線熒光光譜儀熒光光譜的相關介紹
能量色散X射線熒光光譜采用脈沖高度分析器將不同能量的脈沖分開并測量。能量色散X射線熒光光譜儀可分為具有高分辨率的光譜儀，分辨率較低的便攜式光譜儀，和介于兩者之間的臺式光譜儀。高分辨率光譜儀通常采用液氮冷卻的 半導體探測器，如Si(Li)和高純鍺探測器等。低分辨便攜式光譜儀常常采用正比計數器或閃爍
X射線熒光分析儀的優點
對于已壓鑄好的機械零件可以做到無損檢測，而不毀壞樣品。 測試速率高，可以在較少時間內進行大量樣品測試，分析結果可以通過計算機直接連網輸出。 分析速度較快。 對于純金屬可采用無標樣分析，精度能達分析要求。 不需要專業實驗室與操作人員，不引入其它對環境有害的物質。
X射線熒光分析儀的缺點
關于非金屬和界于金屬和非金屬之間的元素很難做到精確檢測。在用基本參數法測試時，如果測試樣品里含有C、H、O等元素，會出現誤差。 不能作為仲裁分析方法，檢測結果不能作為國家認證根據，不能區分元素價態。 對于鋼鐵等含有非金屬元素的合金，需要代表性樣品進行標準曲線繪制，分析結果的精確性是建立在標樣
X射線熒光分析儀的優點
對于已壓鑄好的機械零件可以做到無損檢測，而不毀壞樣品。 測試速率高，可以在較少時間內進行大量樣品測試，分析結果可以通過計算機直接連網輸出。 分析速度較快。 對于純金屬可采用無標樣分析，精度能達分析要求。 不需要專業實驗室與操作人員，不引入其它對環境有害的物質。
X射線熒光分析儀的缺點
關于非金屬和界于金屬和非金屬之間的元素很難做到精確檢測。在用基本參數法測試時，如果測試樣品里含有C、H、O等元素，會出現誤差。 不能作為仲裁分析方法，檢測結果不能作為國家認證根據，不能區分元素價態。 對于鋼鐵等含有非金屬元素的合金，需要代表性樣品進行標準曲線繪制，分析結果的精確性是建立在標樣
X射線熒光光譜儀檢測分析原理
X射線熒光光譜分析儀可以對各種樣品的元素組成進行定量分析，包括壓片、融珠、粉末液體、甚至是龐大的樣品。它使用一種高功率X射線管達到了檢測限低和測量時間短的效果。具有重現性好，測量速度快，靈敏度高的特點。 X射線熒光光譜分析儀物理原理 當材料暴露在短波長X光檢查，或伽馬射線，其組成原子可能發生
晶體,準晶體,非晶體X一射線衍射實驗的區別
晶體,準晶體,非晶體這三種物質，如果僅用肉眼是難以分辨的。固體物質是否為晶體，一般用X射線衍射法予以鑒定。晶體會對X射線發生衍射，非晶體不會對X射線發生衍射。可以通過有無衍射現象來區分晶體和非晶體。至于準晶體，它是一種介于晶體和非晶體之間的固體。用X光對固體進行結構分析，它和晶體、非晶體的結構截然不
晶體,準晶體,非晶體X一射線衍射實驗的區別
晶體,準晶體,非晶體這三種物質，如果僅用肉眼是難以分辨的。固體物質是否為晶體，一般用X射線衍射法予以鑒定。晶體會對X射線發生衍射，非晶體不會對X射線發生衍射。可以通過有無衍射現象來區分晶體和非晶體。至于準晶體，它是一種介于晶體和非晶體之間的固體。用X光對固體進行結構分析，它和晶體、非晶體的結構截然不
x射線探傷儀的檢測原理介紹
對工件進行透照、拍片，X射線通過膠片顯示出加工成的零件和焊接的內部缺陷，以此評定制品的質量。 可檢測出焊縫和零件的裂紋、發紋、白點、折疊、夾雜物等缺陷，具有很高的檢測靈敏度，且能直觀的顯示出缺陷的位置、形狀、大小和嚴重程度。 探傷機應用領域： 無損檢測公司、壓力容器制造廠、造船廠、航空航天、石油
質子激發X射線熒光分析的X－射線譜
在質子X 射線熒光分析中所測得的X 射線譜是由連續本底譜和特征X 射線譜合成的疊加譜。樣品中一般含有多種元素，各元素都發射一組特征X 射線譜，能量相同或相近的譜峰疊加在一起，直觀辨認譜峰相當困難，需要通過復雜的數學處理來分解X 射線譜。解譜包括本底的扣除、譜的平滑處理、找峰和定峰位、求峰的半高寬
X射線單晶體衍射儀的派特遜函數的介紹
從派特遜圖上可以比較容易地得到晶體中所含重原子的位置坐標，可依此計算各衍射的相角 αHKL，將此αHKL去與實驗測得的結構振幅|FHKL|結合生成FHKL，可據此計算電子密度圖，可以定出更多原子的原子位置及修正已有的原子位置。再利用這些數據重新計算αHKL、FHKL及ρ（x,y,z），如此反復
X射線單晶體衍射儀的一般步驟的介紹
1、選擇大小適度，晶質良好的單晶體作試樣，收集衍射數據。 2、指標化衍射圖，求出晶胞常數，依據全部衍射線的衍射指標，總結出消光規律，推斷晶體所屬的空間群。 3、將測得的衍射強度作吸收校正，LP校正等各種處理以得出結構振幅|F|。 4、相角和初結構的推測。常用推測相角的方法有派特遜函數法及直
關于X射線單晶體衍射儀的結構的精修介紹
由派特遜函數或直接法推出的結構是較粗糙和可能不完整的，故需要對此初始結構進行完善和精修。常用的完善結構的方法稱為差值電子密度圖，常用的精修結構參數的方法是最小二乘方法，經過多次反復，最后可得精確的結構。同時需計算各原子的各向同性或各向異性溫度因子及位置占有率等因子。 最終所得結果的優劣常用吻合
X射線熒光分析儀的基本信息介紹
X 射線熒光光譜儀的不斷完善和發展所帶動的X 射線熒光分析技術已被廣泛用于冶金、地質、礦物、石油、化工、生物、醫療、刑偵、考古等諸多部門和領域。X 射線熒光光譜分析不僅成為對其物質的化學元素、物相、化學立體結構、物證材料進行試測，對產品和材料質量進行無損檢測，對人體進行醫檢和微電路的光刻檢驗等的
X射線熒光光譜儀的物理原理介紹
當材料暴露在短波長X光檢查，或伽馬射線，其組成原子可能發生電離，如果原子是暴露于輻射與能源大于它的電離勢，足以驅逐內層軌道的電子，然而這使原子的電子結構不穩定，在外軌道的電子會“回補”進入低軌道，以填補遺留下來的洞。在“回補”的過程會釋出多余的能源，光子能量是相等兩個軌道的能量差異的。因此，物質
X射線熒光光譜儀分類的相關介紹
按照色散方式的不同，X射線熒光光譜儀可以分為2類：波長色散型X射線熒光光譜儀（WDXRF）和能量色散型X射線熒光光譜儀（EDXRF）。 能量色散型x射線光譜儀 現代應用X射線熒光光譜分析技術目前已在地質、冶金、材料、環境等無機分析領域得到了廣泛的應用，是各種無機材料中主組分分析最重要的技術手
X射線熒光光譜儀的分析方法介紹
X射線熒光光譜儀具有重現性好，測量速度快，靈敏度高的特點，分為波長色散、能量色散、非色散X熒光、全反射X熒光。分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。X射線熒光光譜法有如下特點：?分析的元素范圍廣，從4Be到92U均可測定；熒光X射線譜線簡單，相互干擾少，樣品不必分離，分析方
X射線熒光光譜儀的分析方法介紹
X射線熒光光譜儀具有重現性好，測量速度快，靈敏度高的特點，分為波長色散、能量色散、非色散X熒光、全反射X熒光。分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。X射線熒光光譜法有如下特點：?分析的元素范圍廣，從4Be到92U均可測定；熒光X射線譜線簡單，相互干擾少，樣品不必分離，分析方
X射線熒光光譜儀的防護系統介紹
X射線熒光光譜儀的防護系統是為了防止X射線泄漏，高壓發生器只有在射線防護系統正常的情況下才能啟動。高壓發生器的輸出功率4Kw，將高壓加至X射線光管后，除小部分用于產生X射線外，大部分轉化為熱能，由內部油循環冷卻系統帶走。內循環冷卻系統用于光管頭部分，因此要求內循環油為電導率很低的專用油。如果長期
X射線熒光光譜儀的測量范圍介紹
儀器可以定量分析周期表中90％以上的元素，從鎂到更重的元素。這些可測定的元素覆蓋了商用發展以及合金中使用的大部分學生文化傳統元素。這種方法的x射線分析儀檢查技術能力，基于學生獲取材料主要成分的信息，可以獲得鋁合金、不銹鋼、鉻鉬合金、多管和法蘭材料，很多企業基于這些合金、青銅合金、各種社會其他一些
X射線熒光光譜儀的粒度效應介紹
在熒光強度的推導公式中，假設的樣品都是均勻且表面光滑的。但是實際上只有液體樣品或經過充分拋光的純金屬或某些合金樣品才能滿足這些條件。對于其他固體樣品特別是粉末樣品常常存在著樣品不均勻及粒度效應和表面效應。 均勻樣品，對于固體粉末樣品來說是指粉末的粒度和化學組成完全相同的樣品。實驗表明這種樣品在
X射線熒光光譜儀X射線防護系統的故障分析
為了防止X射線泄漏，高壓發生器只有在射線防護系統正常的情況下才能啟動。射線防護系統正常與否，主要檢查以下二部分： 1、面板的位置是否正常。X射線熒光光譜儀是一個封閉系統，面板是最外層的射線防護裝置，如果有一塊面板不到位，儀器就有射線泄漏的可能。因此，每塊面板上都有位置接觸傳感器，面板沒有完全合
X射線熒光光譜儀中的X射線原理科普
X射線熒光光譜儀是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。x射線具有很高的穿透本領，能透過許多對可見光不透明的物質，如墨紙、木料等。這種肉眼看不見的射線可以使很多固體材料發生可見的熒光，使照相底片感光以及空氣電離等效應。X射線初用于醫學成像診斷和X射線結晶學。X射線也是游離輻射等這一類對人體有危害的
X射線熒光光譜儀和X射線熒光能譜儀特點對比
X射線熒光光譜儀和X射線熒光能譜儀各有優缺點。前者分辨率高，對輕、重元素測定的適應性廣。對高低含量的元素測定靈敏度均能滿足要求。后者的X射線探測的幾何效率可提高2～3數量級，靈敏度高。可以對能量范圍很寬的X射線同時進行能量分辨(定性分析)和定量測定。對于能量小于2萬電子伏特左右的能譜的分辨率差。
X射線熒光分析技術的相關介紹
X射線熒光分析是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法。 X射線熒光分析又稱X射線次級發射光譜分析。本法系利用原級X射線光子或其它微觀粒子激發待測物質中的原子，使之產生次級的特征X射線（X光熒光）而進行物質成分分析和化學態研究的方法。1948年由H.費里德曼（H.Friedmann）和L.S
X射線熒光法的相關介紹
X射線熒光法是用，照射待測樣品，使受激元素產生二次特征X射線（即熒光），使用X射線熒光儀測量并記錄樣品中待測元素的特征X射線照射量率，從而確定樣品的成分和目標元素含量的方法。 方法的特點是操作簡單，速度快，可以進行原位測量，在現場獲得目標元素的含量；劃分礦與非礦的界限，代替或部分代替刻槽取樣。
X射線熒光分析技術的特點介紹
1.分析速度快，通常每個元素分析測量時間在2～lOOs之內即可完成。 2.非破壞性，X射線熒光分析對樣品是非破壞性測定，使得其在一些特殊測試如考古、文物等貴重物品的測試中獨顯優勢 3.分析樣品范圍廣，可以對元素周期表上的多種元素進行分析，并可直接測試各種形態的樣品。 4.分析樣品濃度范圍寬
X射線熒光分析技術的應用介紹
隨著儀器技術和理論方法的發展，X射線熒光分析法的應用范同越來越廣。在物質的成分分析上，在冶金、地質、化工、機械、石油、建筑材料等工業部門，農業和醫藥衛生，以及物理、化學、生物、地學、環境、天文及考古等研究部門都得到了廣泛的應用：有效地用于測定薄膜的厚度和組成．如冶金鍍層或金屬薄片的厚度，金屬腐蝕
X射線熒光儀器的技術優點介紹
利用XRF，元素周期表中絕大部分元素均可測量。作為一種分析手段，XRF具有其優越的地方：分析速度快、非破壞分析、分析精密度高、制樣簡單等。波長色散和能量色散XRF光譜儀對元素的檢測范圍為10-5%~100%，對水樣的分析可達10-9數量級；全反射XRF的檢測限已達到10-9~10-12g。同時也