實驗室光學儀器X射線衍射儀發展歷史
X射線是指波長為0.01~10nm的電磁波,1895年倫琴(W.C.Roentgen)在使用放電管工作時發現了X射線,因為這一個重大發現,倫琴于1901年獲得了諾貝爾獎。1913年莫斯萊(H.G.Moseley)建立了X射線波長與原子序數的關系,奠定了X射線熒光光譜分析(X Ray Fluorescence,XRF)的基礎,1948年弗里德曼(H.Friedmann)和伯克斯(L.S.Birks)研制出第一臺商用X射線熒光光譜儀。隨著新技術的發展,X射線在現代分析化學中得到廣泛應用,除了X射線熒光光譜法外,還有X射線衍射分析,X射線光電子能譜等。......閱讀全文
實驗室光學儀器X射線衍射儀發展歷史
X射線是指波長為0.01~10nm的電磁波,1895年倫琴(W.C.Roentgen)在使用放電管工作時發現了X射線,因為這一個重大發現,倫琴于1901年獲得了諾貝爾獎。1913年莫斯萊(H.G.Moseley)建立了X射線波長與原子序數的關系,奠定了X射線熒光光譜分析(X Ray Fluoresc
實驗室光學儀器X射線衍射儀應用
英國物理學家布拉格(Bragg)父子在1912年提出了著名的布拉格定律。該定律對X射線衍射的方向做出了精確的表述。布拉格方程:nλ=2dsinθ(λ為X射線波長,n為衍射級數,d為晶面間距,θ為衍射半角。)其推導過程為:當一束平行X射線射入晶體后,晶體內部的不同晶面將使散射線具有不同的光程。設一組晶
實驗室光學儀器X射線衍射儀應用介紹
一、物相分析是X射線衍射在金屬中用得最多的方面,分定性分析和定量分析。前者把對材料測得的點陣平面間距及衍射強度與標準物相的衍射數據相比較,確定材料中存在的物相;后者則根據衍射花樣的強度,確定材料中各相的含量。在研究性能和各相含量的關系和檢查材料的成分配比及隨后的處理規程是否合理等方面都得到廣泛應用。
實驗室光學儀器X射線衍射儀基本概念
X射線衍射(X-ray diffraction)簡寫為XRD。通過對材料進行X射線衍射,分析其衍射圖譜,獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構或形態等信息的研究手段。XRD可用于確定晶體的原子和分子結構。其中晶體結構導致入射X射線束衍射到許多特定方向。 通過測量這些衍射光束的角度和強度,晶體學家可
實驗室光學儀器X射線衍射儀的運用對象
X射線衍射技術可以分析研究金屬固溶體、合金相結構、氧化物相合成、材料結晶狀態、金屬合金化、金屬合金薄膜與取向焊接金屬相、各種纖維結構與取相、結晶度、原料的晶型結構檢驗、金屬的氧化、各種陶瓷與合金的相變、晶格參數測定、非晶態結構、納米材料粒度、礦物原料結構、建筑材料相分析、水泥的物相分析等。非金屬材料
實驗室光學儀器X射線衍射儀檢索樣品分類
視情況樣品可以分成三大類:第一類是天然礦物,第二類是人工合成,第三類就是合金。按經驗來說,天然礦物是最好分析的,因為種類不多且天然礦物的數據庫特別地全,所有已知礦物都能找到相應的卡片,不存在“新相”的問題。數據庫中的數據最成熟。 但是,天然礦物也是最容易出現“錯判”的樣品,特別是粘土類樣品,更是這樣
實驗室光學儀器X射線衍射儀基本原理
投射于物質的X射線收到散射,稱散射X射線的物質為散射體,自散射體散射的X射線分為相干的和非相干的兩部分。晶體散射的X射線的相干部分,由于晶體結構的周期性,晶體中各個原子(原子上的電子)的散射波可相互干涉而疊加,稱之為相干散射或衍射。X射線在晶體中的衍射現象,實質上是大量原子散射波相互干涉的結果。每種
實驗室光學儀器X射線衍射儀微量相的檢出
樣品中的主要相要檢出來是很容易的,因為它們的譜是全的,所有該有的線都會出現。而且峰也強,容易檢出。微量相檢不出有三個原因。一是峰強低,二是譜不全,該有的峰也許根本都沒出現,往往檢到最后,只剩下兩個峰沒有檢出了。三是峰形不好,象是峰又不象是峰。解決的辦法有三個:一個是"強線法"選好剩余峰,如果能肯定剩
實驗室光學儀器X射線衍射儀的儀器角度校正
選用標準硅樣品,用與被測樣品相同的實驗條件測量標準樣品的全譜。校正儀器角度誤差。具有步驟為:①?對標準樣品的衍射譜進行物相檢索、扣背景和Kα2、平滑、全譜擬合后,選擇菜單“Analyze-Theta Calibration? F5”命令,在打開的對話框中單擊Calibrate,顯示出儀器的角度補正曲
實驗室光學儀器多晶X射線衍射的方法
一、粉末法粉末法又稱粉晶法。在勞厄發現單晶體對X射線衍射后不久,德國的德拜和謝樂(Debye & Scherrer)、美國的胡爾幾乎同時發現了粉末法。它采用波長一定的X射線,樣品為研磨成粉末狀的細小晶體顆粒的集合體,通常將它們膠合,制成直徑小于0.5毫米的細圓柱,安裝在特制的粉末照相機的中心。長條形
實驗室光學儀器X射線衍射儀的常見問題分析
?一、什么是標準半峰寬度,如何得到?所謂的標準半峰寬應該是指儀器本身的寬化因子,和實驗時使用的狹縫條件關系最大,想得到它并不難。比如在相同的測量條件下,把 Si 標樣放到儀器上測量 Si 的各個衍射峰的 Kα1 峰的半高寬,就是所謂的標準了。當你需要測量一系列非標樣 Si 粉時,就把標樣 Si 的
實驗室光學儀器X射線衍射儀晶粒大小計算
一、關于XRD圖譜?1)衍射線寬化的原因?用衍射儀測定衍射峰的寬化包括儀器寬化、試樣本身引起的寬化。試樣引起的寬化又包括晶塊尺寸大小的影響、不均勻應變(微觀應變)和堆積層錯(在衍射峰的高角一側引起長的尾巴)。后二個因素是由于試樣晶體結構的不完整所造成的。2)半高寬、樣品寬化和儀器寬化樣品的衍射峰加寬
X射線晶體定向衍射歷史介紹
射線晶體衍射是人們了解原子世界的利器，這一技術為人們解析了大量的重要生物學結構。今年是這一技術的百年誕辰，本期Nature雜志以特刊形式，介紹了X射線晶體衍射的過去、現在和將來。1914年，德國科學家Max?von?Laue因為發現晶體中的X射線衍射現象，獲得了諾貝爾物理學獎，這一發現直接催生了X射
X射線衍射儀
特征X射線及其衍射X射線是一種波長（0.06-20nm）很短的電磁波，能穿透一定厚度的物質，并能使熒光物質發光、照相機乳膠感光、氣體電離。用高能電子束轟擊金屬靶產生X射線，它具有靶中元素相對應的特定波長，稱為特征X射線。如銅靶對應的X射線波長為0.154056 nm。X射線衍射儀的英文名稱是X-ra
X射線衍射儀
產品型號:?X'Pert PRO生產廠家:荷蘭帕納科公司PANalytical B.V.（原飛利浦分析儀器）儀器介紹:X'Pert PRO X射線衍射儀采用陶瓷χ光管、DOPS直接光學定位傳感器精確定位和最優化的控制臺及新型窗口軟件。采用模塊化設計，可針對不同的要求采用最優的光學系統
實驗室光學儀器X射線衍射儀的XRD制樣樣品要求
X射線衍射實驗的準確性和實驗得到的信息質量好與壞與樣品的制備有很大關系,因此在做XRD衍射實驗時應合理處理樣品和制備樣品。Xrd可以測量塊狀和粉末狀的樣品,對于不同的樣品尺寸和樣品性質有不同的要求。制備時應考慮晶粒大小、試樣的大小及厚度、擇優取向、加工應變和表面平整度。1)塊狀樣品的要求及制備a.對
實驗室光學儀器X射線衍射儀的樣品不能精修的原因
選擇精修命令后,有時會出現“Unable to Graft hkl’s to peaks”的提示。表明不能進行精修。其原因有兩種:一是有些擬合的峰沒有對應的(hkl)標記。例如,測量鐵素體的5條線,但檢索PDF卡片只有前3條線,3條衍射線不能進行精修。二是衍射峰位相對于“選定結構 (標準卡片)”的峰
X射線衍射儀構造
X射線衍射儀的形式多種多樣，用途各異，但其基本構成很相似，為X射線衍射儀的基本構造原理圖，主要部件包括4部分。 （1）高穩定度X射線源 提供測量所需的X射線,改變X射線管陽極靶材質可改變X射線的波長,調節陽極電壓可控制X射線源的強度。 （2）樣品及樣品位置取向的調整機構系統 樣品須是單晶、粉
X射線衍射儀原理
x射線的波長和晶體內部原子面之間的間距相近，晶體可以作為X射線的空間衍射光柵，即一束X射線照射到物體上時，受到物體中原子的散射，每個原子都產生散射波，這些波互相干涉，結果就產生衍射。衍射波疊加的結果使射線的強度在某些方向上加強，在其他方向上減弱。分析衍射結果，便可獲得晶體結構。以上是1912年德國物
多晶x射線衍射儀
主要應用于樣品的物像定性或定量分析、晶體結構分析、材料的織構分析、宏觀應力或微觀應力的測定、晶粒大小測定、結晶度測定等等，因此，在材料科學、物理學、化學、化工、冶金、礦物、藥物、塑料、建材、陶瓷。。。。。。。。。。。。。。以至考古、刑偵、商檢等眾多學科和行業中都有廣泛的應用，是理工科院校和材料研究、
X射線衍射儀法
X射線主要被原子中緊束縛的外層電子所散射。X射線的散射可以是相干的(波長不變)或非相干的(波長變)。相干散射的光子可以再進行相互干涉并依次產生一些衍射現象。衍射出現的角度(θ)可以與晶體點陣中原子面間距(d)聯系起來，因此X射線衍射花樣可以研究寶玉石的晶體結構和進行物相鑒定。一、X射線的產生及其性質
X射線衍射儀應用
Olympus便攜式X 射線衍射儀BTX可能直接分析出巖石的礦物組成及相對含量，并形成了定性、定量的巖性識別方法，為錄井隨鉆巖性快速識別、建立地質剖面提供了技術保障。每種礦物都具有其特定的X 射線衍射圖譜，樣品中某種礦物含量與其衍射峰和強度成正相關關系。在混合物中，一種物質成分的衍射圖譜與其他物質成
多晶X射線衍射儀
多晶X射線衍射儀是一種用于材料科學領域的分析儀器，于2008年7月1日啟用。 技術指標 ● X射線高壓發生器：最大功率：3kW，最大電壓：60kV，最大電流：60mA ● 陶瓷X光管：Cu靶，最大功率：2.2kW, 最大電壓：60kV，最大電流：55mA ● q/q 掃描模式，掃描范圍：0.
X射線衍射儀法
X射線主要被原子中緊束縛的外層電子所散射。X射線的散射可以是相干的(波長不變)或非相干的(波長變)。相干散射的光子可以再進行相互干涉并依次產生一些衍射現象。衍射出現的角度(θ)可以與晶體點陣中原子面間距(d)聯系起來，因此X射線衍射花樣可以研究寶玉石的晶體結構和進行物相鑒定。一、X射線的產生及其性質
單晶X射線衍射的理論發展
發現衍射現象 圖片 1912年勞埃等人根據理論預見，并用實驗證實了X射線與晶體相遇時能發生衍射現象，證明了X射線具有電磁波的性質，成為X射線衍射學的第一個里程碑。當一束單色X射線入射到晶體時，由于晶體是由原子規則排列成的 晶胞組成，這些規則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同 數量級，故由
實驗室光學儀器X射線衍射儀的樣品的結構精修過程介紹
樣品的結構精修是以某一指定結構為初始值進行修正的。具有步驟如下:①物相檢索,對指定物相的“初始結構”。②扣背景和Kα2、對圖譜作平滑處理。③物相衍射峰的擬合。如果樣品中存在幾個物相,則全部衍射峰都要參與擬合。④選擇菜單“Options-Cell Refinement”命令,開始精修。
實驗室光學儀器X射線衍射儀的測量方法的誤差及消除
1)Debye—Scherrer法的測量誤差及消除主要誤差:樣品偏離相機的轉軸,相機直徑不準確,照相底片顯影、定影過程中的伸縮或底片直徑偏離相機直徑,X射線的軸向發射以及指數焦點光源或均勻焦點光源所產生的不同吸收等。消除誤差:①提高儀器的加工精度,謹慎操作和精確計算;②利用誤差與θ角的函數關系進行圖
X射線晶體衍射學的發現與歷史
1912 年在人類的科學史上是一個重要的年份、一個里程碑式的年份，因為德國科學家勞厄（Maxvon Laue, 1879-1960）在這一年發現了X 射線晶體衍射現象，并開創了X 射線衍射物理學的研究。緊接著，英國科學家小布拉格（William LawrenceBragg，1890-1971）在
多功能X射線衍射儀的由來與發展
簡要敘述了自X射線衍射發現以來近百年中X射線衍射儀的發展情況,大致可以劃分為四個階段:①早期的照相機階段,特點是以照相底片做探測記錄器,底片可同時記錄許多衍射線,測角器構造簡單;②中期的衍射儀階段,特點是用計數器做探測器,大大提高了衍射強度的測量準確性,但要逐個記錄衍射線,測角器構造復雜,電子技術的
實驗室光學儀器單晶的X射線衍射分析方法及原理介紹
結構測定是由實測X射線衍射強度獲得結構振幅,求得晶胞中的電子密度分布進而確定原子在晶胞中的空間位置。其中,怎么由實測X射線衍射強度獲得結構振幅尤為重要。換而言之,單晶分析就是測定一個晶體的結構,測定步驟如下:a.單晶體的制備或挑選,要成功地完成一個晶體結構的分析,首先要制備一個品質優良、尺度合適的單